这篇论文报道了光学归一化反射率（NR）瞬态的预测和分析。 使用转移矩阵方法（TMM）的AlGaAs多层和分布式布拉格反射器（DBR）。 模拟结果与生长样品的测得的NR瞬变很好地相关。 AlxGa1-xAs的偏差成功预测了预期样本和实际样本之间的组成。 较小的光学预测了第一DBR层中的振动幅度，并且可以将其用作Al成分的指示。 前三对DBR中的NR瞬变的特殊特征也通过使用计算出的透射率随厚度的增加而变化。 TMM模拟的NR瞬变为因此证明是一种方便，可靠的预生产技术，也不限于AlGaAs 材料。