注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. 半导体器件概述 LevelSet

  2. 半导体材料综合分析 LevelSet分析法，空穴半导体材料综合分析 LevelSet分析法，空穴半导体材料综合分析 LevelSet分析法，空穴

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2011-07-10
    • 文件大小：828416
    • 提供者：index61index

  1. 横河电机CW240钳式功率计中文简介.pdf

  2. 横河电机CW240钳式功率计中文简介pdf,横河电机CW240钳式功率计中文简介：一台仪器即可实现电能分析和电源质量控制，同时测量4个系统的负载(共模电压)，宽测量量程，4通道漏电流检测，接线和设置检查功能，可保存大量数据，模拟输入-输出功能(可选)电流输入端 ●带有电流钳式探头HAL反接保护 电压输入端 ●带有电压线连接保护 cw240 h ◎◎◎ 保护罩 FUTAN RS232C接口 外部控制MO端子 模拟O端了(选配件) W已口cP对 YOKOGAWA争 主菜单 H PC弹出按钮 量 设置

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-12
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：weixin_38744270

  1. SINE300使用说明书.pdf

  2. SINE300使用说明书pdf,SINE300使用说明书SINE300系列矢量控制变频器使用说明书 总目录 详细目录 1.1SINE300系列矢量控制变频器型号及规范 1-2 1.2SIN300系列矢量控制变频器名称解释. ,⊥-4 1.3SINE300系列矢量控制变频器基本功能 1-7 1.4SINE300系列矢量控制变频器部件 1.5SIN300系列矢量控制变频器键盘. 1-10 2.1产品确认 22 2.2外形尺寸和安装尺寸 2-3 2.3安装场所要求和管理 2-5 2.3.1安装现场 2

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-09
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_38744153

  1. 基于直流变频技术的压缩机驱动系统的研究.pdf

  2. 基于直流变频技术的压缩机驱动系统的研究pdf,基于直流变频技术的压缩机驱动系统的研究密封技木两 www.mfw365.com 首家密封技行业门户网站 explained in the concrete Moreover, according to characteristic of the motor' s structure, the old Three-step Starting Technology" has been improved. What is more Important, a

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-13
    • 文件大小：15728640
    • 提供者：weixin_38744153

  1. 直线电机在水射流切割平台中的应用及设计研究

  2. 目前水射流切割平台在精密切割领域还存在一些问题,在精度和速度方面存在不足,而基于直线电机驱动的精密切割平台在切割半导体材料上,因其高速度和高精度而具有很大的潜力,相对于传统的"旋转伺服电机+滚珠丝杠"进给传动有着巨大的优势。综合分析水射流切割平台性能参数及要求,提出一套可行的直线电机选型方案,实现了直线电机在水射流精密切割数控机床上的可靠应用。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-06-30
    • 文件大小：181248
    • 提供者：weixin_38612437

  1. 工业电子中的运用互补性显微术在终极尺度上三维重构并分析同一个纳米级样品

  2. 运用两种不同的纳米尺度或原子尺度测量分析方法分析同一个样品，对完全掌握一种材料或产品的属性至关重要，这种优势互补的分析方法特别适用于测定MOSFET、FINFET等新一代纳米级晶体管的掺杂分布情况。本文综合电子断层扫描技术(ET)与原子探针层析技术(APT)两种表征方法，研究纳米级晶体管中硼原子空间分布特征。本文采用电子断层扫描技术，结合原子级分辨率离子弹道仿真实验，以修正原子探针层析技术的三维重构图像失真。APT三维重构技术能够对样品器件进行详细的化学分析。　　在超大规模集成电路上的纳米级晶体

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：217088
    • 提供者：weixin_38655878

  1. 运用互补性显微术在尺度上三维重构并分析同一个纳米级样品

  2. 运用两种不同的纳米尺度或原子尺度测量分析方法分析同一个样品，对完全掌握一种材料或产品的属性至关重要，这种优势互补的分析方法特别适用于测定MOSFET、FINFET等新一代纳米级晶体管的掺杂分布情况。本文综合电子断层扫描技术(ET)与原子探针层析技术(APT)两种表征方法，研究纳米级晶体管中硼原子空间分布特征。本文采用电子断层扫描技术，结合原子级分辨率离子弹道仿真实验，以修正原子探针层析技术的三维重构图像失真。APT三维重构技术能够对样品器件进行详细的化学分析。　　在超大规模集成电路上的纳米级晶体

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：634880
    • 提供者：weixin_38630853