单模光纤宏弯损耗特性的试验研究，彭星玲，张华，为了有效减轻光纤宏弯损耗振荡现象，研发精密光纤宏弯器件，提出了一种测量光纤宏弯损耗的新方法，用这种方法对比研究了两种单模

2010年11月9日消息，光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB. 　　而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。 　　单模光纤损耗主要包括内部的本征损耗和吸收损耗，同时也受加工绞合、铺设、接头等使用过程中的弯曲影响。随着光纤使用场

2010年11月9日消息，光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB. 　　而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。 　　单模光纤损耗主要包括内部的本征损耗和吸收损耗，同时也受加工绞合、铺设、接头等使用过程中的弯曲影响。随着光纤使用场合的