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  1. 单片机应用技术选编(7)

  2. 内容简介    《单片机应用技术选编》(7) 选编了1998年国内50种科技期刊中有关单片机开发应用的文 章共510篇,其中全文编入的有113篇,摘要编入的397篇。全书共分八章,即单片机综合 应用技术;智能仪表与测试技术;网络、通信与数据传输;可靠性与抗干扰技术;控制系统 与功率接口技术;电源技术;实用设计;文章摘要。    本书具有重要实用价值,书中介绍的新技术、新器件以及单片机应用系统的软、硬件资 料有助于减少产品研制过程中的重复性劳动,提高单片机应用技术水平,是从事单片机应用 开发技
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2010-05-19
    • 文件大小:13631488
    • 提供者:zgraeae
  1. 模电 数电 单片机笔试及面试问题.pdf

  2. 该文档包括数电、模电、单片机、计算机原理等笔试问题,还讲解了关于面试的问题该如何解答,对大家有一定的帮助电流放大就是只考虑输岀电流于输入电流的关系。比如说,对于一个uA级的信号,就需要放大后才能驱动 一些仪器进行识别(如生物电子),就需要做电流放大 功率放大就是考虑输出功率和输入功率的关系。 其实实际上,对于任何以上放大,最后电路中都还是有电压,电流,功率放大的指标在,叫什么放大,只 是重点突出电路的作用而已。 15.推挽结构的实质是什么? 般是指两个三极管分别受两互补信号的控制,总是在一个三极
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2019-10-12
    • 文件大小:664576
    • 提供者:fromnewword
  1. 单片机RAM测试故障方法有几种?

  2. 在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行是十分必要的。通过可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-15
    • 文件大小:53248
    • 提供者:weixin_38629130
  1. 常用的单片机系统ram测试方法

  2. 本文主要讲了常用的单片机系统ram测试方法,希望对你的学习有所帮助。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-15
    • 文件大小:51200
    • 提供者:weixin_38674675
  1. 单片机系统RAM故障的几种测试方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。一、RAM测试方法回顾方法1:一种测试系统RAM的方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。方法2:方法1并不能完全检查出RAM
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-13
    • 文件大小:54272
    • 提供者:weixin_38670186
  1. 单片机系统对RAM的测试方法

  2. 本文介绍了单片机系统RAM测试的一般方法,并在原有基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。它具有诊断耗时短、故障覆盖率高的特点,因而有着很高的应用价值。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-31
    • 文件大小:55296
    • 提供者:weixin_38720009
  1. 单片机系统RAM的测试方法研究

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-13
    • 文件大小:55296
    • 提供者:weixin_38687648
  1. 几种常用的单片机系统RAM测试的方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-10
    • 文件大小:54272
    • 提供者:weixin_38675506
  1. 几种常用的单片机系统RAM测试方法

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-25
    • 文件大小:56320
    • 提供者:weixin_38744962
  1. 单片机与DSP中的单片机的存储器数据绘图设计

  2. 本文提出了一种从存储器导出数据,并运用MATLAB进行数据进制转换、绘图的方法,绘制的图形能很好地复现模拟信号源信号,对单片机调试分析具有一定帮助。   1 理论分析   A/D转换器是连接模拟信号与数字信号的桥梁,现有单片机芯片通常都内置有ADC模块,A/D采样值通常以字节的形式存储在片内存储器中。对RAM或Flash中的A/D采样数据绘图,调试过程中先在存储结束处设置断点,然后把存储的数据以记事本形式导出到PC,设计MATLAB软件将记事本中的十六进制数据转换为十进制处理,最后绘图。将绘
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-21
    • 文件大小:150528
    • 提供者:weixin_38631599
  1. 几种常用的单片机系统RAM测试方法研究

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-19
    • 文件大小:54272
    • 提供者:weixin_38631401
  1. LED使用过程中辐射损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法 LED被称为第四代照明光源或绿色光源,具有节能、环保、寿命长、体积小等特点,可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来,世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。     出光率决定LED光源应用程度     LED灯具与传统灯具有完全不同的结构,而且结构对发挥其特性有着关健作用,现代LED灯具主要由LED光源、光学系统、驱动性器、散热器、标准灯具接口等五部分组成。     德国量一的芯片内通过在硅胶中掺入
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-19
    • 文件大小:63488
    • 提供者:weixin_38649315
  1. 常用的单片机系统RAM测试方法

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-25
    • 文件大小:54272
    • 提供者:weixin_38727199
  1. 显示/光电技术中的LED使用过程中的损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法 LED被称为第四代照明光源或绿色光源,具有节能、环保、寿命长、体积小等特点,可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来,世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。   出光率决定LED光源应用程度   LED灯具与传统灯具有完全不同的结构,而且结构对发挥其特性有着关健作用,现代LED灯具主要由LED光源、光学系统、驱动性器、散热器、标准灯具接口等五部分组成。   德国量一的芯片内通过在硅胶中掺入纳米荧光粉可
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-05
    • 文件大小:64512
    • 提供者:weixin_38503483
  1. 单片机与DSP中的单片机系统RAM的测试方法研究

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。   1 RAM测试方法回顾   (1)方法1   参考文献中给出了一种测试系统RAM的方法。该方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-10
    • 文件大小:57344
    • 提供者:weixin_38737283
  1. 嵌入式系统/ARM技术中的基于FPGA的双口RAM实现及应用

  2. 摘要:为了在高速采集时不丢失数据,在数据采集系统和CPU之间设置一个数据暂存区。介绍双口RAM的存储原理及其在数字系统中的应用。采用FPGA技术构造双口RAM,实现高速信号采集系统中的海量数据存储和时钟匹配。功能仿真验证该设计的正确性,该设计能减小电路设计的复杂性,增强设计的灵活性和资源的可配置性能.降低设计成本,缩短开发周期。   随着电子技术的飞速发展,大量的高速数据采集和在线测试对现代工业测控系统和仪器仪表的功能和性能提更高要求。CPU并行工作(双单片机系统)方式得到广泛应用。为了使2个
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-07
    • 文件大小:186368
    • 提供者:weixin_38576561
  1. LED使用过程中的损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法 LED被称为第四代照明光源或绿色光源,具有节能、环保、寿命长、体积小等特点,可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来,世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。   出光率决定LED光源应用程度   LED灯具与传统灯具有完全不同的结构,而且结构对发挥其特性有着关健作用,现代LED灯具主要由LED光源、光学系统、驱动性器、散热器、标准灯具接口等五部分组成。   德国量一的芯片内通过在硅胶中掺入纳米荧光粉可
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:63488
    • 提供者:weixin_38605144
  1. 单片机的存储器数据绘图设计

  2. 本文提出了一种从存储器导出数据,并运用MATLAB进行数据进制转换、绘图的方法,绘制的图形能很好地复现模拟信号源信号,对单片机调试分析具有一定帮助。   1 理论分析   A/D转换器是连接模拟信号与数字信号的桥梁,现有单片机芯片通常都内置有ADC模块,A/D采样值通常以字节的形式存储在片内存储器中。对RAM或Flash中的A/D采样数据绘图,调试过程中先在存储结束处设置断点,然后把存储的数据以记事本形式导出到PC,设计MATLAB软件将记事本中的十六进制数据转换为十进制处理,绘图。将绘制图
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:183296
    • 提供者:weixin_38742460
  1. 单片机RAM测试故障方法有几种?

  2. 在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。  一、 RAM测试方法回顾  方法1:一种测试系统RAM的方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。  方法2:方法1并不能完
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:58368
    • 提供者:weixin_38705558
  1. 单片机系统RAM故障的几种测试方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。    一、RAM测试方法回顾   方法1:一种测试系统RAM的方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。   方法2:方
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:54272
    • 提供者:weixin_38622611
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