准确、快捷、实时地对苹果树冠层土壤和作物分析仪器开发(SPAD)值进行高光谱估测，对苹果树的长势监测具有重要意义。连续2 年测量了62 个果园的196 棵苹果树冠层光谱反射率及SPAD 值，分析了原始光谱及连续统去除法处理后的光谱与SPAD 的相关性，并对连续统去除法处理后的光谱在350~1300 nm 范围内，计算了任意两波段组合而成的归一化植被指数(NDVI)、比值植被指数(RVI)和差值植被指数(DVI)等光谱指数。利用逐步回归和主成分分析法，提取主成分作为自变量，构建了估测SPAD 的支