随着跳频通信的发展，锁相环频率综合器的锁定时间被限定得愈发严格，TD-LTE标准中已被缩短到20 μs，这要求研发人员精准地把握锁定时间。使用信号源分析仪能够快速且准确地测出锁定时间，但是国内的高校和研究单位还没有广泛普及，目前测试锁定时间的方法混杂，测试误差极大，始终没有形成统一的业内标准方法。鉴于此，选用了一款基于ADF4351的PLLFS模块作为固定测试对象，分别采用5种不同方法针对同一跳变频点的锁定时间进行了实测，并首次以“信号源分析仪法”的测试结果为标准，横向对比了“频谱仪测量法”、“