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基于TDC的低成本CP-PLL内置自检
为了确保电荷泵闭环(CP-PLL)的资格,完整的内置自测(BIST)方案应提供测量时钟抖动和检测CP-PLL中的故障的功能。 本文提出了一种低成本的BIST结构,该结构既提供了检测到的故障,又提供了测量到的时序抖动。 基于提出的时间数字转换器(TDC)的结构具有高分辨率,并且大多数TDC块都基于CP-PLL中的现有块,从而降低了测试成本和面积开销。 该电路已在台积电0.13微米CMOSCraft.io中进行了设计和仿真。 仿真结果表明,该算法的分辨率约为0.9865 ps,故障覆盖率为98.33
所属分类:
其它
发布日期:2021-03-17
文件大小:908288
提供者:
weixin_38741101