欧姆龙光电开关是传感器大家族中的成员，它把发射端和接收端之间光的强弱变化转化为电流的变化以达到探测的目的。由于光电开关输出回路和输入回路是电隔离的(即电缘绝)，所以欧姆龙光电开关可以在许多场合得到应用。采用集成电路技术和SMT表面安装工艺而制造的新一代光电开关器件，具有延时、展宽、外同步、抗相互干扰、可靠性高、工作区域稳定和自诊断等智能化功能。这种新颖的光电开关是一种采用脉冲调制的主动式光电探测系统型电子开关，它所使用的冷光源有红外光、红色光、绿色光和蓝色光等，可非接触，无损伤地迅速和控制各种固

导读：在现实生活中往往由于集成电路的损坏，导致一部分或几个部分设备不能正常工作，从而影响设备的正常使用。那么如何对集成电路存在的故障进行行之有效的检修是很重要的。本文针对集成电路检修的常规方法、检测技巧、及实战拆卸方法进行逐一介绍，希望能为大家带来帮助。 　　集成电路是一种采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型电子器件或部件。其中所有元件在结构上已组成一

导读：随着工艺技术的发展，栅的尺寸越来越小，金属的层数越来越多，发生天线效应的可能性就越大。而天线效应则会对小型技术领域产生非常大的影响，因为泄电所带来的损害很可能波及整个栅极。因此，本文对天线效应的产生机理及消除天线效应的方法做出了讨论。 　　1.天线效应简单介绍 　　天线效应或等离子导致栅氧损伤是指：在MOS集成电路生产过程中，一种可潜在影响产品产量和可靠性的效应。 　　在芯片生产过程中，暴露的金属线或者多晶硅（polysilicon）等导体，就象是一根根天线，会收集电荷（如等离子刻蚀

可靠性的定义是系统或元器件在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力。从集成电路的诞生开始，可靠性的研究测试就成为IC设计、制程研究开发和产品生产中的一个重要部分。 　　Jack Kilby 在1958年发明了集成电路，第一块商用单片集成电路在1961年诞生；1962年9月26日，第一届集成电路方面的专业国际会议在美国芝加哥召开。当时会议名称为“电子学失效物理年会”；1967年,会议名称改为“可靠性物理年会”；1974年又改为“国际可靠性物会议”(IRPS) 并延续至今。IRPS已经发展

集成电路是20世纪60年代发展起来的一种半导体器件，它的英文名称为Integrated Cir-cuites，缩写为IC。在一块极小的硅单晶片上，利用半导体工艺制作上许多半导体二极管、三极管、电阻器、电容器等元件，并连接成能完成特定电子技术功能的电子电路，然后封装在一个便于安装的外壳中，便构成了集成电路。集成电路实现了元件、电路和系统的三结合，因此它的元件密度高，引线短，外部接线大为减少，从而提高了电子设备的可靠性及灵活性，而且使电子设备的装配大为简化，降低了成本，为电子技术的应用开辟了一个崭新