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扫描探针显微术
扫描探针显微术,陈宝箴,,自从1982年G. Binnig,等人制成世界上第一台扫描隧道显微镜以来,扫描探针显微术 (SPM)有了飞速的发展。一方面,新用途的扫描探针显微镜
所属分类:
其它
发布日期:2020-03-12
文件大小:305152
提供者:
weixin_38741759
研究亚细胞结构和功能的扫描探针声显微术和压电响应力显微术
研究亚细胞结构和功能的扫描探针声显微术和压电响应力显微术,程茜,姚文刚,扫描探针声显微术(SPAM)和压电响应力显微术(PFM)可以实现生物材料在纳米尺度上的力学和压电特性的无损检测和成像。本文基于SPAM�
所属分类:
其它
发布日期:2020-02-15
文件大小:1048576
提供者:
weixin_38734506
工业电子中的运用互补性显微术在终极尺度上三维重构并分析同一个纳米级样品
运用两种不同的纳米尺度或原子尺度测量分析方法分析同一个样品,对完全掌握一种材料或产品的属性至关重要,这种优势互补的分析方法特别适用于测定MOSFET、FINFET等新一代纳米级晶体管的掺杂分布情况。本文综合电子断层扫描技术(ET)与原子探针层析技术(APT)两种表征方法,研究纳米级晶体管中硼原子空间分布特征。本文采用电子断层扫描技术,结合原子级分辨率离子弹道仿真实验,以修正原子探针层析技术的三维重构图像失真。APT三维重构技术能够对样品器件进行详细的化学分析。 在超大规模集成电路上的纳米级晶体
所属分类:
其它
发布日期:2020-10-19
文件大小:217088
提供者:
weixin_38655878
扫描探针显微术及其在纳米科技中的应用
综述了近二十年来以扫描隧道显微镜为代表的、基于探针的成像显微装置基本原理及应用领域.
所属分类:
其它
发布日期:2021-02-11
文件大小:398336
提供者:
weixin_38604653
运用互补性显微术在尺度上三维重构并分析同一个纳米级样品
运用两种不同的纳米尺度或原子尺度测量分析方法分析同一个样品,对完全掌握一种材料或产品的属性至关重要,这种优势互补的分析方法特别适用于测定MOSFET、FINFET等新一代纳米级晶体管的掺杂分布情况。本文综合电子断层扫描技术(ET)与原子探针层析技术(APT)两种表征方法,研究纳米级晶体管中硼原子空间分布特征。本文采用电子断层扫描技术,结合原子级分辨率离子弹道仿真实验,以修正原子探针层析技术的三维重构图像失真。APT三维重构技术能够对样品器件进行详细的化学分析。 在超大规模集成电路上的纳米级晶体
所属分类:
其它
发布日期:2021-01-20
文件大小:634880
提供者:
weixin_38630853