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  1. 扫描电子显微镜(SEM)分析和具有静态力且无中间层的扩散结合的钛-钛和钛-铜板的硬度

  2. 在本研究中,商业纯钛(2级)已经在没有任何夹层的情况下在静态力下与钛和铜板扩散结合。 通过光学显微镜和SEM测试扩散结合的样品的显微硬度和显微结构分析。 从本研究中发现,结合区受到诸如结合时间(1-2小时),结合力(250 N),结合温度(973-1073 K)和表面粗糙度等工艺变量的影响。 研究结果表明,在973〜1073 K的温度范围内以及在真空中持续1到2个小时的时间,导致了接头具有高硬度和最小的孔隙。 结合层的硬度取决于界面处的晶界扩散,在Ti-Cu接头的情况下可获得最大的硬度。 当使用
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-06-05
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:weixin_38631182