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搜索资源列表

  1. 开放式CPU设计 实验程序 时序部件实验

  2. 开放式CPU设计 实验程序 时序部件实验 所有程序均编译测试通过 请放心下载

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-12-02
    • 文件大小：347136
    • 提供者：w405924507

  1. 基于UML 的资料室管理系统用例时序图状态图

  2. 基于UML 的资料室管理系统 用例 时序图 状态图 测试分析 毕业设计论文 摘要 I Abstract II 目录 III 第1章 引言 1 第2章 系统需求分析 2 1.1项目描述 2 1.1.1 开发背景 2 1.1.2 开发目的 2 1.1.3 业务范围 2 1.1.4 参考文档 3 1.1.5 术语说明 3 1.2约束及假定 3 1.2.1软件运行环境及技术约束 3 1.2.2 交付及部署约束 3 1.3功能性需求 4 1.3.1系统角色 4 1.3.2需求描述 6 1.4.非功能性需

  3. 所属分类：C#

    • 发布日期：2011-05-02
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：daiyu198801

  1. 有效测试的50条建议

  2. 为什么在需求中引入测试 1. 可以提早发现bug 2. 可以对软件和领域有更深的了解， 3. 可以更好的完成 test plan, design, case, 4. 可以对需求提出修改意见 5. 可以发现有意义的bug, 提高测试质量 二， 在需求阶段测试的工作。 1. 和需求人员一起参与分析需求，使得测试能深层次的理解需求。 2. 如果需求已形成，测试需要用审阅的方式进行，主要看是否有功能遗漏，是否有多余的需求。 需求表达是否规范等（对测试有行业的要求） 1.是否所有需求都体现了 是[ ]

  3. 所属分类：互联网

    • 发布日期：2011-12-02
    • 文件大小：11534336
    • 提供者：hezijimin95

  1. DS18B20驱动程序及其测试程序

  2. 温度传感器 DS18B20驱动程序及其测试程序 详细的时序控制解说

  3. 所属分类：C/C++

    • 发布日期：2011-12-10
    • 文件大小：3072
    • 提供者：coffeecat308

  1. 华为硬件信号质量与时序测试指导书

  2. 华为硬件信号质量与时序测试指导书

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2012-04-20
    • 文件大小：321536
    • 提供者：guijianshipcb

  1. 环境温度测试

  2. 1. 学习使用ZG211硬件综合实验平台，程序设计集成开发环境； 2. 根据课程设计题目，进行需求分析，搞清楚课程设计需要设计需求和需要解决的设计内容。 3. 查阅和学习课程设计题目需要的接口芯片资料，掌握接口芯片的使用方法和编程要领。查阅和学习课程设计题目需要的辅助芯片以及器件资料。 4. 设计接口芯片和辅助芯片以及器件与8051单片机连接硬件电路原理图。 5. 设计与硬件电路原理图对应的C语言程序（或8051汇编语言）。给出程序流程图。在集成开发环境中调试程序。给出程序的详细注释。能够解释

  3. 所属分类：C++

    • 发布日期：2012-06-25
    • 文件大小：44032
    • 提供者：jackieehe

  1. DDR 时序测试方法

  2. 在P4D项目(Springdale-G/PE)中, 主要看System ddr Data 和Strobe信号的时序质量是否满足规范要求.

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2012-09-12
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：xlxnhhh

  1. 智能手机信号完整性测试

  2. 智能手机的硬件电路设计越来越复杂,在非常小的空间内存在各种高速信号,仅仅依赖于功能测试已不能满足质量要求,信号完整性测试越来越必不可少。基于示波器的信号完整性测试包括了信号波形测试，时序测试，眼图测试，抖动测试，频谱测试等。智能手机的信号完整性测试主要包括小电压电源纹波测量，时钟信号测量，各种串行数据(USB2.0,MIPI,MHL)的一致性测量，产生行业组织要求的一致性测试报告,DDR测量，传输信道测量等。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2012-10-13
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：globalgiant

  1. C# 写的计算器，包含单元测试工程和整个系统流程图，类图，时序图

  2. C# 写的计算器，包含单元测试工程和整个系统流程图，类图，时序图。另外注释为英文注释，包含类的注释和方法的注释，另外还有键盘输入功能

  3. 所属分类：C#

    • 发布日期：2008-08-26
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：gowell

  1. C# 写的计算器，包含单元测试工程和整个系统流程图，类图，时序图

  2. 太分太多，下了免费发给大家，呵呵 C# 写的计算器，包含单元测试工程和整个系统流程图，类图，时序图

  3. 所属分类：C#

    • 发布日期：2008-08-26
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：zhu6789888

  1. 软件测试实用教程

  2. 软件测试的实用教程，帮助完成毕业设计的用例图，活动图，时序图，状态图，和一些测试用例的撰写。

  3. 所属分类：软件测试

    • 发布日期：2014-04-12
    • 文件大小：8388608
    • 提供者：fenggeng1647

  1. 时序逻辑电路实验：手动设置8位检测码的序列检测器工程包

  2. 手动设置8位检测码的序列检测器工程包 包含VHDL程序文件、引脚配置等，完美测试~

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-05-21
    • 文件大小：249856
    • 提供者：cooelf

  1. VGA 测试时序

  2. 这个可以生成1080x1920的DPI时序，用以测试SSD2828+FPGA下液晶屏的刷屏信号

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-09-30
    • 文件大小：3072
    • 提供者：luxuchenghu

  1. 单板硬件信号质量与时序测试技术规范

  2. 单板信号质量与时序测试技术规范以信号完整性为依据，对单板信号质量与时序测试的方法、内容、注意事项等进行全面描述

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2015-04-01
    • 文件大小：226304
    • 提供者：qq_27050519

  1. 浅析配屏之V-by-one信号时序测试

  2. 浅析配屏之V-by-one信号时序测试 本文主要阐述了笔者在实践经验基础上总结归纳出的关于UDTV屏参匹配性测试中V-by-one信号时序测试的方法以及注意事项

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2015-08-17
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：tpeihong

  1. 常用信号完整性的测试手段和在设计的应用

  2. 如下提到的波形测试用的最多，经常用在Flash、DDR测试当中，使用泰克以及安捷伦的示波器。记得经常要向其它团队借用大宽带的示波器。其它的眼图测试过USB接口还有HDMI接口，抖动测试也是在Flash和DDR测试时使用，需要带有抖动测试的软件和探头---说其它的时序测试、频域测试、TDR测试还有误码率测试都有进行过。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-22
    • 文件大小：97280
    • 提供者：weixin_38537968

  1. 基于FPGA的八通道高速ADC的时序设计

  2. 针对八通道采样器AD9252的高速串行数据接口的特点，提出了一种基于FPGA时序约束 的高速解串方法。使用Xilinx公司的FPGA接收高速串行数据，利用FPGA内部的时钟管理模块DCM、位置约束和底层工具Planahead实现高速串并转换中数据建立时间和保持时间的要求，实现并行数据的正确输出。最后通过功能测试和时序测试，验证了设计的正确性。此方法可适用于高端和低端FPGA，提高了系统设计的灵活性，降低了系统的成本。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-31
    • 文件大小：74752
    • 提供者：weixin_38652090

  1. 高速嵌入式视频系统中SDRAM时序控制分析

  2. 本文利用C-NOVA公司数字电视MPEG-2解码芯片AVIA9700内置的SDRAM控制器所提供的时序补偿机制，设计了一个方便使用的内存时序测试软件工具，利用这个工具，开发测试人员可在以AVIA9700为解码器的数字电视接收机设计和生产中进行快速诊断，并解决SDRAM的时序问题。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-31
    • 文件大小：202752
    • 提供者：weixin_38741891

  1. 电子测量中的基于扫描的SOC全速测试及应用

  2. 随着现代超大规模集成电路的规模日趋增大，对集成电路测试的要求也在不断提高。对于工作在高速下的数字系统，不光要针对其逻辑结构进行测试，还要求其信号能在指定周期内达到稳定状态。这大大提高了测试要求，不仅要求对电路逻辑缺陷进行测试并且要求设计者能对时序缺陷进行测试。因此为了提高测试质量和满足时序测试的要求，必须在额定时钟速度下施加测试矢量并观察响应，即进行全速(at-speed)测试。 1 转换故障、路径延迟故障的模型以及测试矢量生成进行全速测试，首先是要选择测试时针对的故障模型，最常用的全速测试模

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-08
    • 文件大小：95232
    • 提供者：weixin_38670318

  1. Rambus存储器的全套测试解决方案

  2. Tektronix公司推出一套Rambus测试工具，可为板级、系统级和协议级测试提供全套解决方案。它由TDS 694C数字存储示波器(DSO)、TLA 720逻辑分析仪、DG2040数据发生器、HFS 9003波形发生器和11801C DSO组成。 TDS 694C采用3GHz的实时采样频率，可提供精确的615ps单次时序测试，并可在所有的四个通道上同步采集数据，时基信号非常稳定。TLA 700配合TMS 810 Rambus存储器接口可使设计人员在全速率下观察Rambus直接存储器

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-08
    • 文件大小：34816
    • 提供者：weixin_38564718
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