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  1. 浅谈PCB的阻抗控制

  2. 阻抗控制最终需要通过PCB设计实现,对PCB板工艺也提出更高要求,经过与PCB厂的沟通,并结合EDA软件的使用,我对这个问题有了一些粗浅的认识,愿和大家分享。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-05
    • 文件大小:75776
    • 提供者:weixin_38619967
  1. 浅谈PCB的阻抗控制

  2. 随着电路设计日趋复杂和高速,如何保证各种信号(特别是高速信号)完整性,也就是保证信号质量,成为难题。此时,需要借助传输线理论进行分析,控制信号线的特征阻抗匹配成为关键,不严格的阻抗控制,将引发相当大的信号反射和信号失真,导致设计失败。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-22
    • 文件大小:189440
    • 提供者:weixin_38638312
  1. 电子测量中的浅谈TDR测试过程静电危害及其预防

  2. 摘 要 文章简要介绍静电产生原理及其危害,详细分析TDR仪器主体结构及测试过程静电危害,针对静电产生环节采取预防措施,并初步取得成效。   电子通讯技术飞速发展,为了提高传输速率和传输距离,计算机和通讯产业正逐步转移到高速串行总线,在芯片-芯片、板卡-板卡与背板间实现高速互连。   这些高速串行总线的速率正从过去USB2.0、LVDS及FireWire1394的几百Mbps,提升到当前PCI-Express G1/G2、SATA G1/G2、XAUI/2XAUI、XFI的数Gbps,甚至达1
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-21
    • 文件大小:369664
    • 提供者:weixin_38727062
  1. 浅谈TDR测试过程静电危害及其预防

  2. 摘 要 文章简要介绍静电产生原理及其危害,详细分析TDR仪器主体结构及测试过程静电危害,针对静电产生环节采取预防措施,并初步取得成效。   电子通讯技术飞速发展,为了提高传输速率和传输距离,计算机和通讯产业正逐步转移到高速串行总线,在芯片-芯片、板卡-板卡与背板间实现高速互连。   这些高速串行总线的速率正从过去USB2.0、LVDS及FireWire1394的几百Mbps,提升到当前PCI-Express G1/G2、SATA G1/G2、XAUI/2XAUI、XFI的数Gbps,甚至达1
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:452608
    • 提供者:weixin_38682054