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搜索资源 - 电子测量中的泰克为PCIExpress3.0推出逻辑分析仪测试解决方案
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电子测量中的泰克为PCI Express 3.0推出逻辑分析仪测试解决方案
泰克公司日前宣布,为下一代PCIe规范PCI Express 3.0推出完善的测试解决方案,用一个工具涵盖协议层分析和物理层分析。泰克最新推出的TLA7SA16和TLA7SA08逻辑协议分析仪模块、总线支持软件和探头相结合,使得PCIe 3.0开发人员能够以独有的方式查看系统行为的时间相关特点,从协议层分析开始一直到物理层,调试难检问题的根本原因。 泰克PCIe 3.0测试解决方案基于泰克上一代PCIe协议和逻辑分析产品,这些产品已经被业内芯片厂商、系统设计人员和高性能嵌入式工程师广泛采用
所属分类:
其它
发布日期:2020-11-07
文件大小:88064
提供者:
weixin_38656662