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电源技术中的一种抗SEU存储器电路的FPGA设计
随着我国航空航天事业的迅猛发展,卫星的应用越来越广泛。然而,太空环境复杂多变,其中存在着各种宇宙射线与高能带电粒子,它们对运行于其中的电子器件会产生各种辐射效应。辐射效应对电子器件的影响不可忽视,因为辐射会使器件的性能参数发生退化,以至失效,从而影响卫星的可靠运行,缩短卫星的使用寿命。辐射效应对电子器件的影响很多,其中最主要的有总剂量效应(TID)和单粒子效应(S-EE)。SEE按产生的影响主要包括单粒子翻转(SEU)、单粒子闩锁(SEL)和单粒子烧毁(SEB)等三种类型,其中以SEU最为常见。
所属分类:
其它
发布日期:2020-11-04
文件大小:392192
提供者:
weixin_38609571