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  1. 低压低功耗全摆幅CMOS运算放大器设计与仿真.pdf

  2. 低压低功耗全摆幅CMOS运算放大器设计与仿真pdf,ABSTRACT In recent years, more and more electronic products with battery supply are widely used, which cries for adopting low voltage analog circuits to reduce power consumption, therefore low voltage, low power analog circu
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2019-09-14
    • 文件大小:3145728
    • 提供者:weixin_38744435
  1. 集成电路封装设计可靠性提高方法研究

  2. 摘 要:集成电路封装是集成电路制造中的重要一环,集成电路封装的目的有:第一,对芯片进行保护,隔绝水汽灰尘以及防止氧化;第二,散热;第三,物理连接和电连接。在进行封装设计时,可以通过一些方法,增强产品的制造稳定性以及产品的可靠性。文章研究了引线框架、线弧、等离子清洗及塑封料对封装可靠性的影响以及一些获得高质量的方法。例如:引线框架的加强设计和等离子清洗可以增强与塑封料之间的结合力,低线弧能减少冲丝及线弧摆动。这些方法都已经被证实有利于产品可靠性的提高。   1 前言   随着集成电路的发展,小
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-21
    • 文件大小:189440
    • 提供者:weixin_38743084
  1. 集成电路封装设计的可靠性提高方法研究

  2. 随着集成电路的发展,小型化与多功能成了大家共同追求的目标,这不仅加速了IC设计的发展,也促进了IC封装设计的发展。IC封装设计也可以在一定程度上提高产品的集成度,同时也对产品的可靠性起着很重要的影响作用。本文总结和研究了一些封装工艺中提高可靠性的方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-20
    • 文件大小:210944
    • 提供者:weixin_38516270
  1. 集成电路封装设计可靠性提高方法研究

  2. 摘 要:集成电路封装是集成电路制造中的重要一环,集成电路封装的目的有:,对芯片进行保护,隔绝水汽灰尘以及防止氧化;第二,散热;第三,物理连接和电连接。在进行封装设计时,可以通过一些方法,增强产品的制造稳定性以及产品的可靠性。文章研究了引线框架、线弧、等离子清洗及塑封料对封装可靠性的影响以及一些获得高质量的方法。例如:引线框架的加强设计和等离子清洗可以增强与塑封料之间的结合力,低线弧能减少冲丝及线弧摆动。这些方法都已经被证实有利于产品可靠性的提高。   1 前言   随着集成电路的发展,小型化
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:224256
    • 提供者:weixin_38631401