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  1. 集成芯片测试仪集成芯片测试仪

  2. 集成芯片测试仪集成芯片测集成芯片测集成芯片测试仪试仪试仪

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-01-14
    • 文件大小：194560
    • 提供者：dzcxsys

  1. 74系列集成芯片测试仪自己制作

  2. 在高校的教学实验环节中, 需要大量使用 TTL74 , 54系列和 C MOS4000 , 4500系列数字集成芯 片。目前,市场上存在一种可以对 TTL , C MOS数字 集成芯片进行检测的工程应用型测试仪, 但是其价 格较贵,较难满足学生人手一台; 另外, 该测试仪器 是面向工程单位的, 不能测试实验室中的很多数字 芯片。因此,从节约经费、 提高利用率的角度出发, 本文采用 AT89C51单片机设计了集成芯片测试系 统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的 TTL , CMOS系列芯片

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-05-21
    • 文件大小：568320
    • 提供者：zhangjun5

  1. AD624集成放大器及在应变仪中的应用

  2. 介绍了AD I 公司的集成精密仪表放大器AD 624 的工作原理及使用要点, 给出了以该芯片为核心的一种低噪声、宽带、高增益精密应变测试仪的设计电路。

  3. 所属分类：系统集成

    • 发布日期：2012-09-09
    • 文件大小：226304
    • 提供者：a493993836

  1. 光强度测试仪（原理图）

  2. MSP430系列单片机是美国德州仪器(TI)1996年开始推向市场的一种16位超低功耗的混合信号处理器(Mixed Signal Processor)。称之为混合信号处理器，主要是由于其针对实际应用需求，把许多模拟电路、数字电路和微处理器集成在一个芯片上，以提供“单片”解决方案。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-06-26
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：wu_chao_long

  1. 一种实用的集成芯片测试仪的设计

  2. 我们采用AT89C52单片机设计了集成芯片测试系统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL、CMOS系列芯片及一些常用按键开关的功能检测,同时通过RS232串行口与PC机相连,可以在PC机上直接对测试系统进行操作。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-07
    • 文件大小：86016
    • 提供者：weixin_38720402

  1. 基于FPGA低成本数字芯片自动测试仪的完整方案

  2. 随着电路复杂程度的提高和尺寸的日益缩减，测试已经成为迫切需要解决的问题，特别是进入深亚微米以及高级成度的发展阶段以来，通过集成各种IP核，系统级芯片（SoC）的功能更加强大，同时也带来了一系列的设计和测试问题。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-30
    • 文件大小：95232
    • 提供者：weixin_38743968

  1. 基于单片机的频率特性测试仪设计

  2. 本文给出了数字式频率特性测试仪系统的硬件设计。采用DDS技术作为扫频信号源，同时采用了集成芯片CD4046对相位进行检测和用运算放大器CA3140及其外围模拟电路对幅度进行检测，用单片机AT89C52进行测量控制和数据处理，使用液晶显示器对测量结果进行图形显示。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：105472
    • 提供者：weixin_38551046

  1. 基于DSP的低频频率特性测试仪的设计

  2. 传统的频率特性测试仪不仅价格昂贵，且得不到相频特性，更不能保存频率特性图和打印频率特性图，也不能与计算机接口，给使用者带来了诸多不便。而本文采用DDS技术作为扫频信号源；同时采用了集成模拟芯片AD8302对幅度和相位进行检测，用DSP芯片TMS320VC5409和CPLD芯片EPM7128进行测量控制和数据处理，人杌接口部分是利用单片机AT89C51实现，并配有打印机接口和串行通信接口。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：400384
    • 提供者：weixin_38741101

  1. 基于DSP的低频频率特性测试仪

  2. 基于DSP的低频频率特性测试仪,摘要：传统的频率特性测试仪不仅价格昂贵，且得不到相频特性，更不能保存频率特性图和打印频率特性图，也不能与计算机接口，给使用者带来了诸多不便。而本文采用DDS技术作为扫频信号源；同时采用了集成模拟芯片AD830

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：287744
    • 提供者：weixin_38739044

  1. 电子测量中的集成式比特误码率测试仪在FPGA中的应用

  2. 摘要：IBERT即集成式比特误码率测试仪，是Xilinx专门用于具有高速串行接口的FPGA芯片的调试和交互式配置工具。文中介绍了IBTERT基本功能、实现原理，并结合实例阐述用IBTERT调试FPGA时的具体方法和调试步骤。 　　关键词：误码率测试仪；高速串行接口；眼图 　　随着高速数字系统的发展，高速串行数据被广泛使用，内嵌高速串行接口的FPGA也得到大量应用，相应的高速串行信号质量的测试也越来越频繁和重要。通常用示波器观察信号波形、眼图、抖动来衡量信号的质量，Xilinx提供的IBERT

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：193536
    • 提供者：weixin_38519849

  1. 基于AT89C52的频率特性测试仪设计

  2. 本文给出了数字式频率特性测试仪系统的硬件设计。采用DDS技术作为扫频信号源，同时采用了集成芯片CD4046对相位进行检测和用运算放大器CA3140及其外围模拟电路对幅度进行检测，用单片机AT89C52进行测量控制和数据处理，使用液晶显示器对测量结果进行图形显示。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：133120
    • 提供者：weixin_38685608

  1. 单片机与DSP中的基于DSP的低频频率特性测试仪的设计

  2. 传统的频率特性测试仪不仅价格昂贵，且得不到相频特性，更不能保存频率特性图和打印频率特性图，也不能与计算机接口，给使用者带来了诸多不便。而本文采用DDS技术作为扫频信号源；同时采用了集成模拟芯片AD8302对幅度和相位进行检测，用DSP芯片TMS320VC5409和CPLD芯片EPM7128进行测量控制和数据处理，人杌接口部分是利用单片机AT89C51实现，并配有打印机接口和串行通信接口。 　　1 系统总体方案设计 　　频率特性测试系统一般包含测试信号源、被测网络、检波及显示3个部分。本系统根

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-03
    • 文件大小：296960
    • 提供者：weixin_38552292

  1. 电子测量中的中规模集成电路功能测试仪的设计

  2. 集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。因此，研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。 　　在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器(ADC）、数模转换器(D

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-09
    • 文件大小：212992
    • 提供者：weixin_38642636

  1. 电子测量中的中规模集成电路功能测试仪的设计方案

  2. 集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。因此，研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。 　　在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器（ADC）、数模转换器（D

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-07
    • 文件大小：219136
    • 提供者：weixin_38723753

  1. 电子测量中的信源/器件测试仪实现更快速及更智能化

  2. 由Keithley公司提供的SourceMeter 2600系列测试仪，旨在降低硅芯片与化合物半导体等电子器件厂家的测试成本。据该公司称，该系列测试仪将具有行业最高吞吐量的信源－测量装置 (SMU) ，其尺寸可变，可无缝集成到包含1~16个SMU通道的系统中。售价5495美元的单通道2601型与售价7995美元的双通道2602型测试仪，能使用户配置成可完成精密直流、脉冲及低频交流测试的可升级自动测试设备 (ATE) 系统。据Keithley公司官员介绍，该系列测试仪可提供优于其他竞争产品2~4倍

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：59392
    • 提供者：weixin_38667403

  1. 电子测量中的一种实用的集成芯片测试仪的设计

  2. 一种实用的集成芯片测试仪的设计 在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前，市场上存在一种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学生人手一台；另外，该测试仪器是面向工程单位的，不能测试实验室中很多数字芯片。因此，从节约经费、提高利用率的角度出发，我们采用AT89C52单片机设计了集成芯片测试系统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL、CMOS系列芯片及一些常用按键开关的功能检测，同时通过RS232串行口与PC

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：89088
    • 提供者：weixin_38699724

  1. 基于DSP的低频频率特性测试仪

  2. 传统的频率特性测试仪不仅价格昂贵，且得不到相频特性，更不能保存频率特性图和打印频率特性图，也不能与计算机接口，给使用者带来了诸多不便。而本文采用DDS技术作为扫频信号源；同时采用了集成模拟芯片AD8302对幅度和相位进行检测，用DSP芯片TMS320VC5409 和CPLD芯片EPM7128进行测量控制和数据处理，人机接口部分是利用单片机AT89C51实现，并配有打印机接口和串行通信接口。系统基本达到了全数字化，这有利于缩小仪器的体积，减轻重量，降低成本，并能较好的显示幅频特性和相频特性曲线。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-31
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38736018

  1. 中规模集成电路功能测试仪的设计

  2. 集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。因此，研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。 　　在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器(ADC）、数模转换器(DA

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：278528
    • 提供者：weixin_38605538

  1. 中规模集成电路功能测试仪的设计方案

  2. 集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。因此，研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。 　　在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器（ADC）、数模转换器（DA

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：281600
    • 提供者：weixin_38631042

  1. 集成式比特误码率测试仪在FPGA中的应用

  2. 摘要：IBERT即集成式比特误码率测试仪，是Xilinx专门用于具有高速串行接口的FPGA芯片的调试和交互式配置工具。文中介绍了IBTERT基本功能、实现原理，并结合实例阐述用IBTERT调试FPGA时的具体方法和调试步骤。 　　关键词：误码率测试仪；高速串行接口；眼图 　　随着高速数字系统的发展，高速串行数据被广泛使用，内嵌高速串行接口的FPGA也得到大量应用，相应的高速串行信号质量的测试也越来越频繁和重要。通常用示波器观察信号波形、眼图、抖动来衡量信号的质量，Xilinx提供的IBERT

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：244736
    • 提供者：weixin_38706743
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