摘　要：给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明，该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。 　　关键词：现场可编程门阵列；内建自测；响应检验电路；测试       引    言 　　现场可编程门阵列FPGA(Field ProgrammableGate Array)是一种新型器件，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，因而受到广泛关注。FPGA 测试中