本文通过对FPGA 电路加载配置过程的流程和原理进行研讨，设计了FPGA 电路动态老化的试验方法，并在工程实践中得到了成功的实现和运用。

摘要：近年来，随着FPGA电路在军工和航天领域的广泛应用，用户对FPGA电路的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性*估试验中，动态老化试验是最重要的试验之一，FPGA动态老化技术的实现可以提高FPGA电路的可

摘　要：近年来，随着FPGA 电路在军工和航天领域的广泛应用，用户对FPGA 电路的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性*估试验中，动态老化试验是最重要的试验之一，FPGA 动态老化技术的实现可以提高FPGA 电路的可靠性。文章通过研究FPGA 电路内部结构和功能模块，讨论FPGA 电路加载配置过程的原理和流程，通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析，研究出FPGA 电路动态老化试验方法，并在工程实践中得到了成功实现和应用。 　　1 引言 　　FPGA 是现场可编程门阵列（Fiel

摘　要：近年来，随着FPGA 电路在军工和航天领域的广泛应用，用户对FPGA 电路的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性*估试验中，动态老化试验是重要的试验之一，FPGA 动态老化技术的实现可以提高FPGA 电路的可靠性。文章通过研究FPGA 电路内部结构和功能模块，讨论FPGA 电路加载配置过程的原理和流程，通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析，研究出FPGA 电路动态老化试验方法，并在工程实践中得到了成功实现和应用。 　　1 引言 　　FPGA 是现场可编程门阵列（Field