注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. 显存IC测试定位工具 R3MEMID

  2. ATI显卡显存IC测试定位工具 显存IC测试定位工具

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-11-05
    • 文件大小：313344
    • 提供者：xiaoyaoniner

  1. IC测试原理——必备好资料

  2. IC测试原理--新手入门必备好资料！ word格式的。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-01-05
    • 文件大小：103424
    • 提供者：cyp1234

  1. IC测试原理_芯片测试原理

  2. IC测试原理_芯片测试原理,pdf格式的

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-06-09
    • 文件大小：254976
    • 提供者：xinxippt2010

  1. 电子 IC测试原理解析

  2. IC测试原理解析 本系列一共四章，第一章节主要讨论芯片开发和生产过程中的IC 测试基本原理，内容 覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC 测试中的常用术语；第二章节将 讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；接下来的第三章将介绍混合信号芯 片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-08-15
    • 文件大小：488448
    • 提供者：LAI254265302

  1. 基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论

  2. 基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2012-03-19
    • 文件大小：1036288
    • 提供者：siaswjf

  1. IC测试原理解析

  2. 全面介绍了IC测试方法和分类

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-08-03
    • 文件大小：488448
    • 提供者：liu8033

  1. IC测试原理解析

  2. IC测试原理解析

  3. 所属分类：管理软件

    • 发布日期：2015-08-24
    • 文件大小：488448
    • 提供者：jsqfzhl

  1. 电子元器件基础知识大全:IC测试原理解析

  2. 电子元器件基础知识大全:IC测试原理解析 数字通信系统发射器由以下几个部分构成：*CODEC(编码/解码器) *符号编码 *基带滤波器(FIR) *IQ调制 *上变频器（Upconverter） *功率放大器 CODEC使用数字信号处理方法(DSP)来编码声音信号，以进行数据压缩。它还完成其它一些功能，包括卷积编码和交织编码。卷积编码复制每个输入位，用这些冗余位来进行错误校验并增加了编码增益。交织编码能让码位错误分布比较均匀，从而使得错误校验的效率更高。 符号编码把数据和信息转化为

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-11
    • 文件大小：106496
    • 提供者：weixin_38665093

  1. IC测试数据常用的一些统计算方法2.docx

  2. IC测试数据常用的一些统计算方法：最小值、最大值、平均值、均方差这四个常用的统计值虽然比较普通，但它们可能是后面的一些统计算法的基础，所以在此进行简单介绍。 最小值（Min）：针对某个测试参数，一批测试数据中的最小值 最大值（Max）：针对某个测试参数，一批测试数据中的最大值 平均值（Mean）：针对某个测试参数，一批测试数据的平均值 标准差（Statistical Standard Deviation）：又常称均方差，是离均差平方的算术平均数的平方根，用σ表示。标准差是方差的算术平方根。标准差

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-07-27
    • 文件大小：58368
    • 提供者：tianyake1970

  1. 芯片开发和生产中的IC测试基本原理

  2. 　本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-27
    • 文件大小：101376
    • 提供者：weixin_38610012

  1. IC测试基本原理与ATE测试向量生成

  2. 随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：217088
    • 提供者：weixin_38566180

  1. IC测试基本原理与ATE测试向量生成

  2. 集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。 　　1 IC 测试 　　1.1 IC测试原理 　　IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断D

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：238592
    • 提供者：weixin_38629042

  1. 芯片开发和生产中的IC测试原理

  2. 本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：96256
    • 提供者：weixin_38729685

  1. 元器件应用中的芯片开发和生产中的IC测试基本原理

  2. 1 引言 　　本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 　　2 数字集成电路测试的基本原理 　　器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的，因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识，测试工程师必须清晰了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-05
    • 文件大小：98304
    • 提供者：weixin_38731145

  1. IC测试原理解析(第一部分)

  2. 本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。 因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：93184
    • 提供者：weixin_38667849

  1. 电子测量中的可降低下一代IC测试成本的确定性逻辑内置自测技术

  2. 20世纪70年代随着微处理器的出现，计算机和半导体供应商逐渐认识到，集成电路需要在整个制造过程中尽可能早地进行测试，因为芯片制造缺陷率太高，不能等到系统装配好后再测试其功能是否正确，所以在IC做好之后就应对它进行测试，一般在自动测试设备上采用仿真完整系统激励和响应的功能测试方案进行。 功能测试使制造过程更加经济高效，因为可以保证装配好的电路板和系统都是由已知完好的部件构成，所以成品工作正常的可能性更高。功能测试代表了第一代IC测试，广泛应用了近二十年。随着电子产品越来越复杂专业，专用集成电路(

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：120832
    • 提供者：weixin_38615591

  1. IC测试工程师入门必读

  2. 面试必问，涵盖全面，DC，功能。 通俗易懂，IC测试，DC部分包括OS、leakage等、Func部分包括 pattern等。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-12-17
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_43375887

  1. 提升IC测试厂的产能利用率

  2. 前言 IC测试厂最重要的两大指标就是测试品质与生产效率。测试品质的关键在于测试的再现性与可重复性，而生产要素除了合格率的因素外，最主要的就是测试设备的产能利用率。在质的方面，对于经过测试的每一颗IC，要求在最短的时间内测完所有指标，而且不因时间、地点的不同而测得不同的结果。在量的方面，如何提升测试设备的产能利用率，降低机器准备时间、故障维修时间以及如何减少重测，均考验测试厂的工程技术能力与量产的运行能力。 自动测试设备ATE的生产效率 IC测试厂的服务项目，主要包括晶圆测试、成品测试

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：102400
    • 提供者：weixin_38699593

  1. 混合IC测试系统有效降低测试成本

  2. Credence推出的Sapphire D-10是为满足 消费电子产品市场的低成本测试需求而设计的混合信号IC测试系统。Sapphire D-10是一个高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，该方案是为微控制器、无线基带、显示驱动器和消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而特别设计的。它具有集成度高、体积小、模块化、较高的并行测试能力等特点。  紧凑、高集成的设计平衡成本和性能——Sapphire D-10体积小巧，比一台中型个人电脑大不了多少，它不需要任何复杂的固定器械和环境设施，把它

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：67584
    • 提供者：weixin_38738189

  1. IC测试原理解析(第二部分)

  2. IC测试原理解析(第二部分) http:www.guangdongdz.com  2006-06-23   芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片的基本测试原理，描述了影响芯片测试方案选择的基本因素，定义了芯片测试过程中的常用术语。本文将讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上。接下来的第三章将介绍混合信号芯片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。存储器和逻辑芯片的测试存储器芯片测试介绍存

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：89088
    • 提供者：weixin_38543293
« 12 3 4 5 6 7 8 9 10 ... 43 »