次电子噪声Skipper CCD实验仪器（SENSEI）使用最新开发的Skipper-CCD技术，从次GeV暗物质粒子与硅中电子的相互作用中寻找电子反冲。 我们报告了原型SENSEI检测器的第一个结果，该检测器在费米国家加速器实验室的地面上收集了0.019 g天的调试数据。 这些调试数据足以为质量在约500 keV和4 MeV之间的暗物质粒子设置新的直接检测约束。 此外，由于这些数据是在表面上获取的，因此它们不利于先前允许质量约为500 keV至几百MeV的强相互作用暗物质粒子。 我们讨论了这些

我们提出了一种新颖的框架，其中未来的MeVγ射线望远镜可以检测到光（亚GeV）暗物质（DM），而不会与宇宙微波背景（CMB）数据冲突。 稳定的DM颗粒χ由于其大的pair灭截面而具有非常低的热物质丰度。 DM数密度存储在一个稍重的亚稳伙伴ψ中，对偶pair灭率受到抑制，该扰动不扰动CMB，并且其后期衰变ψ→χ使χDM粒子充满了宇宙。 我们为该框架提供了明确的，与模型无关的实现，并讨论了来自CMB，大爆炸核合成和大规模结构的后期衰减约束，以及由此设置的参数约束。

我们提出通过量规组U（1）T3R扩展标准模型（SM）的量规对称性，以便解决SM的第三代和前两代费米子之间的Yukawa耦合层次。 我们假设在U（1）T3R下只对前两代的右手费米子进行充电。 除了新的暗规玻色子外，我们还有一个暗标量粒子，其真空期望值（vev）将U（1）T3R对称性分解为Z2对称性，并解释了层次结构问题。 需要O（GeV）的vev来自然地解释淡味区的质量参数。 该模型产生的暗物质（DM）粒子自然具有O（1-100）MeV范围内的质量。 该模型满足所有当前约束。 我们讨论了直接检测暗