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  1. 硬件工程师手册156页的硬件开发参考

  2. 第一章 概述 3 第一节 硬件开发过程简介 3 §1.1.1 硬件开发的基本过程 4 §1.1.2 硬件开发的规范化 4 第二节 硬件工程师职责与基本技能 4 §1.2.1 硬件工程师职责 4 §1.2.1 硬件工程师基本素质与技术 5 第二章 硬件开发规范化管理 5 第一节 硬件开发流程 5 §3.1.1 硬件开发流程文件介绍 5 §3.2.2 硬件开发流程详解 6 第二节 硬件开发文档规范 9 §2.2.1 硬件开发文档规范文件介绍 9 §2.2.2 硬件开发文档编制规范详解 10 第三节

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-07-20
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：duanlnn

  1. 华为硬件工程师手册(全)

  2. 主要包括： 第一章 概述 第一节 硬件开发过程简介 § 1.1.1 硬件开发的本过程 § 1.1.2 硬件开发的规范化 第二节 硬件工程师职责与基本技能 § 1.2.1 硬件工程师职责 § 1.2.2 硬件工程师的基本素质与技能 第二章 硬件开发规范化管理 第一节 硬件开发流程 § 2.1.1 硬件开发流程文件介绍 § 2.1.2 硬件开发流程详解 第二节 硬件开发文档规范 § 2.2.1 硬件开发文档规范文件介绍 § 2.2.2 硬件开发文档编制规范详解 第三节 与硬件开发相关的流程文件介绍

  3. 所属分类：Android

    • 发布日期：2011-11-01
    • 文件大小：964608
    • 提供者：ousaisai

  1. 超高概率硬件工程师笔试题

  2. 硬件笔试题 模拟电路 1、基尔霍夫定理的内容是什么？ 基尔霍夫定律包括电流定律和电压定律 电流定律：在集总电路中，任何时刻，对任一节点，所有流出节点的支路电流的代数和恒等于零。 电压定律：在集总电路中，任何时刻，沿任一回路，所有支路电压的代数和恒等于零。 2、描述反馈电路的概念，列举他们的应用。 反馈，就是在电子系统中，把输出回路中的电量输入到输入回路中去。 反馈的类型有：电压串联负反馈、电流串联负反馈、电压并联负反馈、电流并联负反馈。 负反馈的优点：降低放大器的增益灵敏度，改变输入电阻和输出

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2012-03-27
    • 文件大小：102400
    • 提供者：huangshuisheng

  1. 硬件工程师手册

  2. 硬件设计方面的资料，很详细： 目 录 第一章 概述 3 第一节硬件开发过程简介 3 §1.1.1 硬件开发的基本过程 4 §1.1.2 硬件开发的规范化 4 第二节 硬件工程师职责与基本技能 4 §1.2.1 硬件工程师职责 4 §1.2.1 硬件工程师基本素质与技术 5 第二章硬件开发规范化管理 5 第一节 硬件开发流程 5 §3.1.1 硬件开发流程文件介绍 5 §3.2.2 硬件开发流程详解 6 第二节 硬件开发文档规范 9 §2.2.1 硬件开发文档规范文件介绍 9 §2.2.2 硬件

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2013-01-03
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：kolecenter

  1. 华为硬件工程师手册_全.pdf

  2. 硬件工程师手册 目 录 第一章 概述 第一节 硬件开发过程简介 § 1.1.1 硬件开发的本过程 § 1.1.2 硬件开发的规范化 第二节 硬件工程师职责与基本技能 § 1.2.1 硬件工程师职责 § 1.2.2 硬件工程师的基本素质与技能 第二章 硬件开发规范化管理 第一节 硬件开发流程 § 2.1.1 硬件开发流程文件介绍 § 2.1.2 硬件开发流程详解 第二节 硬件开发文档规范 § 2.2.1 硬件开发文档规范文件介绍 § 2.2.2 硬件开发文档编制规范详解 第三节 与硬件开发相关的

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2009-03-02
    • 文件大小：964608
    • 提供者：aqwtyyh

  1. SystemVerilog验证++测试平台编写指南.pdf

  2. 介绍了SystemVerilog验证++测试平台编写指南，IC验证工程师入门必备，搭建SV的验证平台，各种验证方法

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2020-05-28
    • 文件大小：26214400
    • 提供者：qq_39431518

  1. RF/微波开关测试系统设计基础

  2. 无线通信产业的巨大成长意味着对于无线设备的元器件和组件的测试迎来了大爆发，包括对组成通信系统的各种RF IC 和微波单片集成电路的测试。这些测试通常需要很高的频率，普遍都在GHz范围。本文讨论了射频和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类，RF开关卡规格，和有助于测试工程师提高测试吞吐量并降低测试成本的RF开关设计中需要考虑的问题。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-31
    • 文件大小：86016
    • 提供者：weixin_38502693

  1. 10年LED驱动设计工程师的恒流IC使用心得

  2. 以前的LED灯具都是用恒压电源，当时不了解LED的性能，按照厂家给的数据每只小灯珠给到20MA，经过我们测试后，灯珠总是烧掉，才知道厂家的数据是不可靠的，我们减小了电流使用。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-20
    • 文件大小：101376
    • 提供者：weixin_38656103

  1. 电子测量中的IC静电放电的测试方法

  2. 1 前言     静电放电（ESD，electrostatic discharge）是电子工业最花代价的损坏原因之一，它会影响到生产合格率、制造成本、产品质量与可靠性以及公司的可获利润。随着IC产品的制造工艺不断微小化，ESD引起的产品失效问题越来越突出。为了能够了解我们所制造的IC产品的抵抗静电打击的能力，提升产品的质量，减少因ESD而引起的损伤，世界各地的IC工程师们研制出了许多静电放电模拟器，用来模拟现实生活中的静电放电现象，用模拟器对IC进行静电测试，借以找出IC的静电放电故障临界电压

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：123904
    • 提供者：weixin_38711778

  1. 工程师分享：10年LED驱动电源设计,恒流IC使用心得总结

  2. 以前的LED灯具都是用恒压电源，当时不了解LED的性能，按照厂家给的数据每只小灯珠给到20MA，经过我们测试后，灯珠总是烧掉，才知道厂家的数据是不可靠的，我们减小了电流使用。那时是在2002年，做些MR16小灯泡，广告牌之类的应用。我是2007年才开始做恒流驱动,什么HV9910，PT4107，PT6901，SN3910，IR的，试验多了，但是最先成功的是QX9910，出过一些货，但是QX9910有很多不良品，老化后的产品也不太稳定，经常有闪灯现象，现在还有一些剩余的做纪念品了。我认为，要想做好

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：102400
    • 提供者：weixin_38652090

  1. 是德科技高效能音讯分析仪支援精准语音品质测试

  2. 是德科技（Keysight Technologies Inc.）日前宣布推出 Keysight U8903B 高效能音讯分析仪。U8903B 是U8903A 的下一代机型，配备多元的可配置选项，例如语音品品质测试、可扩充的频宽和数位音效介面，让工程师能灵活而准确地测试无线通讯、元件和积体电路（IC）音讯应用。 　　Keysight U8903B 支援ITU-T 制订的聆听品质客观感知评价（POLQA）标准及其前一代语音品质客观评价（PESQ）标准，以协助工程师在电话网路的通用语音讯宽中进行量测

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：51200
    • 提供者：weixin_38711643

  1. 射频和微波开关测试系统基础

  2. 无线通信产业的巨大成长意味着对于无线设备的元器件和组件的测试迎来了大爆发，包括对组成通信系统的各种RF IC 和微波单片集成电路的测试。这些测试通常需要很高的频率，普遍都在GHz范围。本文讨论了射频和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类，RF开关卡规格，和有助于测试工程师提高测试吞吐量并降低测试成本的RF开关设计中需要考虑的问题。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-17
    • 文件大小：81920
    • 提供者：weixin_38584043

  1. 元器件应用中的芯片开发和生产中的IC测试基本原理

  2. 1 引言 　　本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 　　2 数字集成电路测试的基本原理 　　器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的，因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识，测试工程师必须清晰了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-05
    • 文件大小：98304
    • 提供者：weixin_38731145

  1. RFID技术中的射频和微波开关测试系统基础

  2. 绪论 　　无线通信产业的巨大成长意味着对于无线设备的元器件和组件的测试迎来了大爆发，包括对组成通信系统的各种RF  IC 和微波单片集成电路的测试。这些测试通常需要很高的频率，普遍都在GHz范围。本文讨论了射频和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类，RF 开关卡规格，和有助于测试工程师提高测试吞吐量并降低测试成本的RF开关设计中需要考虑的问题。 　　射频开关和低频开关的区别 　　将一个信号从一个频点转换到另一个频点看起来挺容易的，但要达成极低的信号损耗该如何实现呢？设计低频和直

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-08
    • 文件大小：139264
    • 提供者：weixin_38691641

  1. 通信与网络中的蓝牙收发器transceiver IC测试

  2. 蓝牙规范的第一个正式版本1.0版已于1999年7月发布，之后许多厂商都推出了支持蓝牙产品的高性价比集成电路芯片。随着蓝牙产品越来越普及，制造商需要以较低的成本完成大量测试工作。本文针对蓝牙射频前端收发器，着重介绍蓝牙技术规范中定义的各类测试参数。 　　今天的电子工程师几乎没有人没听说过“蓝牙”的概念，这个词出自公元10世纪丹麦国王Harald Blaatand，他为了联系他的臣民曾在挪威和丹麦建立了一个通信系统。开发蓝牙技术是为了使个人数字助理(PDA)、移动电话外设及其它移动计算设备不必使

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-25
    • 文件大小：161792
    • 提供者：weixin_38562130

  1. 电源技术中的安捷伦新版信号完整性测试方案PLTS 4.0助力高速电路设计

  2. 安捷伦科技(Agilent)发表旗下首要信号完整性测试解决方案的最新版本──实体层测试系统(PLTS) 4.0。这个校验、量测与分析平台新增了多端口分析功能，适合从事高速数字设计，及必须处理印刷电路板、接线、IC封装和背板之微波传输线效应的信号完整性工程师使用。安捷伦同时还发表PLTS平台的分析专用软件PLTS Studio，它以经济的价格协助工程人员就Touchstone文件进行测后分析。 　　安捷伦新推出的PLTS 4.0加入了一些重要的增强功能，使工程人员在设计时能够考虑到现今不断改变

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-29
    • 文件大小：64512
    • 提供者：weixin_38725531

  1. IC测试原理解析(第一部分)

  2. 本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。 因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：93184
    • 提供者：weixin_38667849

  1. 电子测量中的可测性设计及其在IC设计中的作用

  2. 当今的IC和印制电路板非常复杂，需要精细而大范围的测试，这大大增加了电子产品开发和制造的成本，因此，引入可测试设计就十分重要。　　开发电子产品的工程小组履行的各种职能中，最花钱的可能集中在验证和测试这两个工序上。表面上看，验证和测试两种职能似乎一样，但只要你再深入研究，很快就会发现两者只是相关而已。验证的目的是排除设计中的错误，确保该设计符合其技术规范。测试的目的是检测由加工制造工序衍生的故障。一个业已完成的设计，可以用为了测试它而开发的相同向量来验证，但却不是在开发期间的验证。工程师们必须开发

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：118784
    • 提供者：weixin_38656463

  1. IC测试工程师入门必读

  2. 面试必问，涵盖全面，DC，功能。 通俗易懂，IC测试，DC部分包括OS、leakage等、Func部分包括 pattern等。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-12-17
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_43375887

  1. 基于TS-900的PXI半导体测试系统解决方案

  2. 半导体测试行业现状 电子行业正处于不断的压力下必须降低其制造成本。上市时间给半导体制造商很大的压力，在新产品投入市场后的很短时间内，利润是的，随后，由于竞争者开发了类似底价产品，利润水平开始下降。开发一个有效的节省费用的测试程序往往是阻碍新产品投入批量生产的瓶颈。 对于半导体供应商来说，其中测试成本一直被视为没有“增值”的成本。如图1所示，资本成本占IC平均销售价格(ASP)的百分比逐渐变小 - 从2001年的5%上升到2010年的约1%。然而，整体器件的ASP也在减少，

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：483328
    • 提供者：weixin_38643127
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