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搜索资源列表

  1. FREESCALE DFT TRAINING

  2. FRESCALE TRAINING SCAN MBIST JTAG BASIC KNOWLADGE ABOUT DFT

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-11-07
    • 文件大小：1036288
    • 提供者：bigbigtobaby

  1. 基于51核的SOC设计

  2. 基于DW8051的SOC设计，包括DFT设计、MBIST、边界扫描测试、ISP等内容

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-12-09
    • 文件大小：414720
    • 提供者：tongtong209

  1. 基于MBIST的多片SRAM检测实现

  2. 难得的SOC存储体检测设计说明书，可以多片SRAM共用一个MBIST控制器，完成存储体自检测、自诊断甚至自修复功能。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2010-06-17
    • 文件大小：279552
    • 提供者：lightfield

  1. SpyGlass-MBISTdatasheet

  2. 解决基于spyglass下的mbist数据列表

  3. 所属分类：C++

    • 发布日期：2010-08-29
    • 文件大小：309248
    • 提供者：ghw888666

  1. DFT 3 Day Course- VAgrawal.zip

  2. 3 days DFT training datum, including DFT, scan, BSD, Mbist, compress.

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-06-14
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：magmaqk

  1. At-Speed Interconnect Test and Diagnosis of External Memories on a System

  2. 描述怎么测试SIP memory的连接故障

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-08-23
    • 文件大小：465920
    • 提供者：seudai

  1. mbist guide

  2. mentor的mbistarchitect工具的guide文档

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-11-07
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：web1987

  1. lfsr c实现

  2. RAM内建测试需要的LFSR算法，C语言实现，主要帮助理解LFSR原理

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2013-05-24
    • 文件大小：250
    • 提供者：guoke2009

  1. MBIST BIST wrap

  2. Memory bist wrap inter face and D F T test ing. It is a good book to read and study. And learning.

  3. 所属分类：Android

    • 发布日期：2014-04-25
    • 文件大小：112640
    • 提供者：kenwang1982

  1. SoC设计课件

  2. SOC设计课件： Overview of IC Testing Fault Modeling Automatic Test Pattern Generation ATPG Design for test DFT techniques Scan chain technique MBIST Boundary Scan

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-12-12
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：qq_24461623

  1. 13~Chapter 08 MBIST.pdf

  2. Funtion safety analysis on memory fault types and detail expranation on each fault.

  3. 所属分类：系统安全

    • 发布日期：2019-06-10
    • 文件大小：896000
    • 提供者：qq_18843769

  1. dsPIC33CK64MP105系列中文数据手册.pdf

  2. 工作条件 • 3.0V至3.6V： -40°C至+125°C， DC至100 MHz 高性能16位DSP RISC CPU • 16位宽数据路径 • 高效代码型（C和汇编）架构 • 40位宽累加器 • 带双数据取操作的单周期（MAC/MPY） • 单周期混合符号乘法： - 32位乘法支持 • 快速的6周期除法 • 零开销循环 高速PWM • 4对PWM • 最佳PWM分辨率为250 ps • 上升沿和下降沿死区 • 死区补偿 • 用于高频操作的时钟斩波 • 为以下各种应用提供PWM支持： - 直

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2020-06-17
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：woshlj2008

  1. 基于高层次综合工具的BIST控制器设计

  2. 存储器内建自测试（MBIST）技术在存储器测试中具有广泛应用，针对传统寄存器传输级描述语言设计BIST控制器的过程相对繁琐、专用EDA工具定义算法的灵活性差和电路结构固定等问题，提出采用高层次综合工具设计BIST控制器的方法。以SRAM为对象，采用C语言描述MARCH算法，并采取端口分配、流水线优化和数组分割等优化方案完善设计。最后借助FPGA平台验证评估了高层次综合工具输出的RTL级代码电路的功能可靠性和规模可控性。相对于传统的两种方法，摆脱了算法实现和电路结构设计的局限性，缩短了算法实现周期

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：302080
    • 提供者：weixin_38631329

  1. SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法

  2. 多片嵌入式SRAM的测试一般由存储器内建自测试MBIST设计来完成。为了迎接多片SRAM的测试给DFT设计带来的挑战。文中以一款基于SMIC O．13um工艺的OSD显示芯片为例，从覆盖率、面积、测试时间、功耗等方面分析了多片SRAM的MBIST设计，提出了一种可实现多片SRAM的快速高效可测试设计实现方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：264192
    • 提供者：weixin_38698433

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法

  2. 摘要：多片嵌入式SRAM的测试一般由存储器内建自测试MBIST设计来完成。为了迎接多片SRAM的测试给DFT设计带来的挑战。文中以一款基于SMIC O．13um工艺的OSD显示芯片为例，从覆盖率、面积、测试时间、功耗等方面分析了多片SRAM的MBIST设计，提出了一种可实现多片SRAM的快速高效可测试设计实现方法。 　　0 引言 　　随着集成电路的发展，越来越多的ASIC和SoC开始使用嵌入式SRAM来完成数据的片上存取功能。但嵌入式SRAM的高密集性物理结构使得它很容易在生产过程中产生物理

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-05
    • 文件大小：232448
    • 提供者：weixin_38713167

  1. 电子测量中的Memory的可测试性设计Mbist

  2. 随着半导体工艺尺寸不断缩小，IC设计的规模越来越大，高度复杂的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。一方面随着半导体工艺尺寸的缩小，嵌入式存储器可能存在的缺陷类型越来越多；另一方面，随着IC产品的复杂度的提高，ROM、RAM、EEPROM在IC产品中的比重越来越大。 嵌入式存储器的可测试设计技术包括直接测试、用嵌入式CPU进行测试和内建自测试技术(MBIST)。直接测试方法利用自动测试设备进行测试，可以轻易实现多种高质量测试算法，但是这种方法存在着一些

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：86016
    • 提供者：weixin_38654380