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搜索资源列表

  1. 数字测试基础(DC,AC,O/S,功能)

  2. 数字测试基础 1． DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称“被测器件”），或者叫UUT （Unit Under Test）。 首先我们来看看关于器件引脚的常识，数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。 信号脚，包括输入、输出、三态和双向四类， ● 输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道；输入管脚感应其上的电压并将它转化 为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。 ● 输出：在芯片内部逻辑和外部环境之间起缓冲

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-08-19
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：aioria0815

  1. 微系统封装基础

  2. 国际上第一本微系统封装的参考书,目录如下： 1 微系统封装导论 1.1 微系统概述 1.2 微系统技术 1.3 微系统封装（MSP）概述 1.4 微系统封装的重要性 1.5 系统级微系统技术 1.6 对微系统工程师的期望 1.7 微系统及封装技术发展史 1.8 微系统及封装技术发展史 1.9 练习题 1.10 参考文献 2 封装在微电子中的作用 2.1 微电子概述 2.2 半导体的特性 2.3 微电子器件 2.4 集成电路（IC） 2.5 IC封装 2.6 半导体技术发展路线图 2.7 IC封

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2013-09-03
    • 文件大小：50331648
    • 提供者：violetxuling

  1. The Parametric Measurement Handbook

  2. 半导体测试基础教程

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2017-06-22
    • 文件大小：17825792
    • 提供者：charkzha

  1. 数字半导体测试基础(包括两个word文档)

  2. 数字半导体测试基础，里面包含了半导体测试的基础知识，对初学者很有用

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-04-17
    • 文件大小：288768
    • 提供者：fishliuliuliu

  1. 半导体测试基础（解压后为word格式）

  2. 半导体测试基础包含最基本的半导体的测试基础，对初学者很有用，是学习的好材料。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-04-17
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：tulan

  1. 数字半导体测试基础

  2. 数字半导体测试基础，这个手册时关于芯片编程的辅助，只有基于内部原理才能编出更好的应用程序，体会IC的世界对今后的其他编程有所助益

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2018-03-31
    • 文件大小：34603008
    • 提供者：caizhuohua

  1. 可调谐半导体激光吸收光谱式甲烷传感器温度补偿技术

  2. 随着可调谐半导体激光吸收光谱气体传感技术的发展,基于该技术的矿用甲烷传感器成为当前煤矿瓦斯监测领域的研究热点,相关产品已陆续投入煤矿现场应用,由于煤矿应用环境的复杂性,传感器测量准确性受环境温度的影响较大。针对这一问题,提出了一种基于分段插值和重心插值的自适应融合的迭代补偿算法,该方法首先取标定温度下浓度的值,计算传感器测量温度影响率,然后求出重心拉格朗日插值的不同温度下的插值函数,在此基础上再对被测浓度甲烷值进行分段插值得到新补偿温度影响率,由该新的补偿温度影响率得到补偿后的甲烷值,依此实现自

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-05-12
    • 文件大小：291840
    • 提供者：weixin_38606019

  1. 半导体测试基础.pdf

  2. 半导体测试基础.pdf

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2020-05-12
    • 文件大小：676864
    • 提供者：iiiiiiicer

  1. 嵌入式硬件基础.pdf

  2. 嵌入式硬件基础.pdf,基础中的基础目求 目录 第一章常用硬件 1.1半导体器件分类 1.2分立器件… 二极管 1.二极管的基本特性 2.二极管的分类 1)整流二极管 2)稳压二极管 3)开关二极管 4)发光二极管 :····· 三极管 1.三极管的基本特性 2.三极管的分类 3.三极管的三种工作状态 1)截止状态 2)放大状态 .····.···;·· 3)饱和导通状态 电阻 55566 1.电阻的主要参数 1)标称阻值..6 2)允许误差 3)额定功率 2.电阻的分类… 垂着垂垂着D看看 3

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2019-08-03
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_45487704

  1. 电子基础知识和基本技能

  2. 目 录 第一章 基础知识和基本技能 §1.1 常用仪器的使用与测量练习 §1.1.1 COS-620双踪示波器 §1.1.2 毫伏表 §1.1.3 低频电子仪器使用练习 §1.2 常用电子元器件的认识及简易测试 §1.2.1 电阻器 §1.2.2 电容器 §1.2.3 电感器 §1.2.4 半导体晶体管 §1.2.5 集成电路 §1.3 电路的设计、安装与调试方法 第二章 模拟电子电路实验 §2.1 单管共发射极放大电路实验 §2.2 负反馈放大电路实验 §2.3 基本运算电路

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2012-09-25
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：luofu1975

  1. 半导体测试概论.pdf

  2. 半导体测试基础概念解释。有利于对半导体集成电路测试有较全面的理解。适合广大半导体从业者和感兴趣的研究者

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-05-24
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：weixin_48087485

  1. 智能时代下，测试仪器如何颠覆性创新？

  2. 近年来电子技术创新突飞猛进，各种新器件、新工艺、新材料等等推动着消费电子、汽车电子、智能医疗等领域的快速革新，反过来这些新兴应用进一步加快了半导体技术的再创新。每个时代都有特定的时代标志的产品，进入到智能化设备时代，作为基础和辅助的电子测试测量技术又会发生什么颠覆性的创新？

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-30
    • 文件大小：133120
    • 提供者：weixin_38627104

  1. 浅析IC测试开发流程及量产数据对产品设计的影响

  2. 集成电路行业作为信息产业的基础，其应用领域上至国防军工下至家用电器。测试技术是检测集成电路质量好坏的重要环节，对集成电路进行测试可有效提高芯片的成品率。测试的主要目的是保证芯片在恶劣环境下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。主要论述半导体后道测试对产品工艺的影响，旨在降低测试成本，提高测试质量及测试精度。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：550912
    • 提供者：weixin_38622777

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的电子基础知识：测判三极管的口诀

  2. 三极管的管型及管脚的判别是电子技术初学者的一项基本功，为了帮助读者迅速掌握测判方法，笔者总结出四句口诀：“三颠倒，找基极;PN结，定管型;顺箭头，偏转大;测不准，动嘴巴。”下面让我们逐句进行解释吧。　　一、三颠倒，找基极　　大家知道，三极管是含有两个PN结的半导体器件。根据两个PN结连接方式不同，可以分为NPN型和PNP型两种不同导电类型的三极管。　　测试三极管要使用万用电表的欧姆挡，并选择R×100或R×1k挡位。对于指针式万用电表有，其红表笔所连接的是表内电池的负极，黑表笔则连接着表内电池的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：58368
    • 提供者：weixin_38559569

  1. 基础电子中的简述半导体功能测试

  2. 述半导体测试的专业术语 1. DUT 　　需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称“被测器件”），或者叫UUT（Unit Under Test）。 　　首先我们来看看关于器件引脚的常识，数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。 　　信号脚，包括输入、输出、三态和双向四类， 　　输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道；输入管脚感应其上的电压并将它转化为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。 　　输出：在芯片

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：120832
    • 提供者：weixin_38675746

  1. 半导体功能测试基础术语

  2. 半导体功能测试包含一些新的术语，这里先简单介绍一下。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：72704
    • 提供者：weixin_38630139

  1. 电子测量中的吉时利扩展DC源测量仪器的量程兼容ACS基础版软件

  2. 先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司，日前增强了其受欢迎的ACS基础版软件，从而增加对更宽范围的源测量（SMU）仪器的支持。扩大兼容仪器的选择范围对于扩展该软件的电压和电流极限用于太阳能电池、光伏板和分立功率半导体测试特别有用。ACS基础版在简单易用的工具中集成了高速硬件控制、设备互连和数据管理，适合于芯片验证、调试和分析。了解关于吉时利ACS基础版软件更多信息，请访问www.keithley.com.cn/products/semiconductor/?mn=ACSBasicEd

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-10
    • 文件大小：73728
    • 提供者：weixin_38567813

  1. 电子测量中的惠瑞捷V93000系统推出Port Scale射频测试解决方...

  2. 半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)的V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000 SoC测试系统开发Port Scale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整合组件制造商、以及半导体委外封装及测试公司目前和未来的需求。     可提供快速架构     Port Scale射频测试解决方案的设计采用固态半导体组件，因此所有的射频资源都集中在V93000的测试头中。不同于其它采用速度慢的外接设备

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-01
    • 文件大小：62464
    • 提供者：weixin_38645208

  1. RFID技术中的针对V93000 SoC测试系统，惠瑞捷发布Port Scale射频测试方案

  2. 半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对V93000 SoC测试机台推出Port Scale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000 SoC测试系统开发Port Scale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整合组件制造商、以及半导体委外封装及测试公司目前和未来的需求。 可提供快速架构 　　Port Scale射频测试解决方案的设计采用固态半导体组件，因此所有的射频资源都集中在V93000的测试头中。不同于其它采用速度慢的外接设备的解决方

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-30
    • 文件大小：62464
    • 提供者：weixin_38530536

  1. 吉时利扩展DC源测量仪器的量程兼容ACS基础版软件

  2. 先进电气测试仪器与系统的吉时利仪器公司，日前增强了其受欢迎的ACS基础版软件，从而增加对更宽范围的源测量（SMU）仪器的支持。扩大兼容仪器的选择范围对于扩展该软件的电压和电流极限用于太阳能电池、光伏板和分立功率半导体测试特别有用。ACS基础版在简单易用的工具中集成了高速硬件控制、设备互连和数据管理，适合于芯片验证、调试和分析。了解关于吉时利ACS基础版软件更多信息，请访问www.keithley.com.cn/products/semiconductor/?mn=ACSBasicEdition。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：72704
    • 提供者：weixin_38713061
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