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搜索资源列表

  1. 旺矽LED探针台说明书

  2. 旺矽LED探针台的说明书，对想进入LED测试行业的人很有帮助哦。

  3. 所属分类：3G/移动开发

    • 发布日期：2009-09-28
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：largestorm

  1. 旺矽LED探针台说明书（LEDA-EVA 3G）

  2. 旺矽最新产品，国内同行们可以好好学习一下，超过他们，哈哈

  3. 所属分类：3G/移动开发

    • 发布日期：2009-09-28
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：largestorm

  1. LED探针台操作手册

  2. 致茂电子所生产的探针台，操作手册。非常详细，同行业的朋友绝对需要。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-08-03
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：nightwish999

  1. 1034XA型半自动探针台Z轴故障分析

  2. 1034XA型半自动探针台Z轴故障分析1034XA型半自动探针台Z轴故障分析

  3. 所属分类：软件测试

    • 发布日期：2011-06-15
    • 文件大小：337920
    • 提供者：w1032944805

  1. silc测试源代码

  2. 使用GPIB与仪器连接后通过测试得到数据，并可与cascade探针台联合测试，已经通过检测

  3. 所属分类：C#

    • 发布日期：2011-12-03
    • 文件大小：34816
    • 提供者：fengcc123

  1. nxmc-3.2.451.dmg 一台服务器可以监视数千个设备上的数百个指标

  2. NetXMS通过对IT基础架构的所有层进行灵活的事件处理，警报，报告和制图功能来提供性能和可用性监视。 深度网络监控 自动进行第2层和第3层发现，可视化和搜索连接的组件 全面的SNMPv3支持 使用扫描探针进行主动发现 基于来自受监视设备的信息的被动发现-ARP和路由表，接口 应用程序和服务器监控 您期望的所有基本指标：CPU，文件系统，I / O，内存，流量 用于监视Java应用程序的JMX桥 特定于应用程序的扩展：Oracle，MySQL，PostgreSQL，Mo

  3. 所属分类：网络监控

    • 发布日期：2020-03-29
    • 文件大小：84934656
    • 提供者：hu_zhenghui

  1. 扫描探针显微术

  2. 扫描探针显微术，陈宝箴，，自从1982年G. Binnig,等人制成世界上第一台扫描隧道显微镜以来，扫描探针显微术 (SPM)有了飞速的发展。一方面，新用途的扫描探针显微镜

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-03-12
    • 文件大小：305152
    • 提供者：weixin_38741759

  1. 无线传感器网络SoC芯片电源模块LDO的设计.pdf

  2. 无线传感器网络SoC芯片电源模块LDO的设计pdf,无线传感器网络SoC芯片电源模块LDO的设计口经验交流口 仪器仪表用户 △Vo Re t 12 瞬间下拉,进入系统的动态调节过程,输出电流增加 输出重新进入稳定状态点。同样,当负载电流瞬间减 3)瞬态特性 小,引起电路新的动态调节,最终进入稳定状态点。表 瞬态特性为负载电流突变时引起输出电压的最1给出LDO仿真结果。 大变化,它是输出电容C及其等效串联电阻Rs和旁 表1LDO仿真结果 路电容C的函数,其中旁路电容C的作用是提高负载 参数 典型值

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-13
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38743481

  1. tskmap2csv.zip

  2. 探针台测试文件格式转换，本程序使用TSK探针台将TSK MAP DATA 格式文件转换为CSV 和晶圆图 极简的命令 tskmap.exe -src ../aaa/33 -dst 33.csv 查看帮助 tskmap.exe --help 解压开内部自带一个测试文件 双击 rundemo.bat 运行测试 其他帮助可以发Email：xjjcolorcore.cn

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-06-28
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：xjiaj

  1. Kelvin四线连接电阻测试技术及应用

  2. 在半导体工艺中许多器件的重要参数和性能都与薄层电阻有关，为提高厚、薄膜集成电路和片式电阻的生产精度，需要使用设备仪器如探针台、激光调阻机对其进行测试或修调。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-24
    • 文件大小：184320
    • 提供者：weixin_38631599

  1. 基础电子中的电容-电压测量技术、技巧与陷阱（下）

  2. 刊登在上一期的《电容-电压(C-V)测量技术与技巧(上)》，讨论了如何针对特定的应用选择最合适类型的C-V测量仪器，并探讨某些C-V测试的典型功能和参数提取限制、连接探针台以及校正探针尖的技巧。这里将探讨识别和校正典型C-V测试误差的方法。 　　常见C-V测量误差 　　偏移和增益误差(如图7所示)是C-V测量中最常见的误差。X轴以对数标度的方式给出了电容的真实值，大小范围从皮法到纳法。Y轴表示系统实际测量的值，包含测量误差。如果测量系统是理想的，那么所测出的值将与真实值完全匹配，可以画成一条

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-05
    • 文件大小：49152
    • 提供者：weixin_38537541

  1. 半导体设备行业报告：测试设备

  2. 其中，前段的工艺检测偏重于从微观角度在线监测晶圆制造的微观结构是否符合工艺要求（例如几何尺寸与表面形貌的检测、成分结构分析和电学特性检测等），而中后道的性能测试主要偏重于从芯片功能性的角度检测芯片的性能表现是否符合设计要求。而狭义的半导体测试，则主要指中后道的性能测试，对应设备包括：测试机、探针台、分选机等。 作为重要的专用设备，集成电路测试设备不仅可判断被测芯片或器件的合格性，还可提供关于设计、制造过程的薄弱环节信息，有助于提高芯片制造水平。在测试过程中探针台和分选机的作用比较相似，都是用作

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-26
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：weixin_38549721

  1. 集成电路测试设备行业报告

  2. 设备制造业是集成电路的基础产业，是完成晶圆制造、封装测试环节和实现集成电路技术进步的关键，在集成电路生产线投资中设备投资达总资本支出的80%左右（SEMI 估计）。所需专用设备主要包括晶圆制造环节所需的光刻机、化学汽相淀积（CVD）设备、刻蚀机、离子注入机、表面处理设备等；封装环节所需的切割减薄设备、度量缺陷检测设备、键合封装设备等；测试环节所需的测试机、分选机、探针台等；以及其他前端工序所需的扩散、氧化及清洗设备等。这些设备的制造需要综合运用光学、物理、化学等科学技术，具有技术含量高、制造难度

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-20
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38560107

  1. 晶圆级商业化生产的TSV-RDL在线故障诊断系统和测试方法的研究

  2. 2013年前三季度，半导体行业目睹了12英寸TSV晶圆的大量增加，安装量已超过100万片。 尽管越来越受欢迎，但是由于Craft.io缺陷导致的成品率下降，TSV技术仍承受着高昂的成本。 绝缘不良和 连接性是TSV和RDL的主要问题（再分配线）结构：如果没有经济有效的测试系统和方法，有故障的TSV可能会堆叠到好的TSV上，从而导致芯片成本增加。提出了两步在线测试方法，以找出这些缺陷并筛选出晶圆上的KGD（已知良模），并建立了基于所提出技术的晶圆级故障诊断系统包括 探针台，分析仪

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-17
    • 文件大小：688128
    • 提供者：weixin_38699593

  1. Examples-Python:SentioProberControl模块的样本文件-源码

  2. SentioProberControl-样本 目录 远程设置圆形晶圆图 远程设置矩形晶圆图 基本遍历没有子站点的晶圆地图 通过TCP / IP或GPIB（ADLINK）直接发送低级远程命令 指示 1.）下载或克隆SentioProberControlSamples存储库 2.）下载的最新版本的 打开资产组合框，然后下载* .tar.gz存档（即sentio_prober_control-1.0.0.tar.gz） 3.）为SENTIO探针台安装SentioProberControl p

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-07
    • 文件大小：80896
    • 提供者：weixin_42140846

  1. 新型阵列式片状放大器点探针光小信号增益实验研究

  2. 介绍了一台通光口径为29 cm×29 cm的新型高功率固体激光阵列式片状放大器,并且在不同充电电压下进行了实验测试.在充电电压为23 kV,抽运能量密度为10.0 J/cm3的条件下,获得了平均值为4.99%cm-1的小信号增益系数和3.0%的储能效率.

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-26
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38589795

  1. C-V测量技术、技巧与陷阱——C-V测量技术连接与校正

  2. 尽管很多C-V测量技术本身相对简单，但是以一种能够确保测量质量的方式实现C-V测试仪与探针台的连接却不是那么简单。目前探针台使用的机械手和探针卡多种多样，当我们试图在一个探针台上同时支持I-V、C-V和脉冲式或超快I-V测量时，它们就会带来一些实际的问题。当进行I-V、C-V或超快I-V测量时，测量结果的质量与线缆的品质和所采用的探针台配置直接相关。 　　直流I-V测量[1]采用低噪声同轴线缆和远程探测线。C-V测量需要使用具有远程探测线的同轴线缆，而且线缆长度要控制的非常。超快I-V测试需要

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：74752
    • 提供者：weixin_38624914

  1. 关于体声滤波器的片上测试与性能表征结果测试详细剖析

  2. 引言射频（ＲＦ）滤波器已成为电子系统小型化、集成化及芯片化的瓶颈之一。薄膜体声波谐振器（ＦＢＡＲ）是目前在５００ＭＨｚ～２０ＧＨｚ频段实现高性能滤波器芯片化的重要途径。ＦＢＡＲ是一种基于体声波（ＢＡＷ）的新型电声谐振器，通过压电薄膜的逆压电效应将电能转换成声波并形成谐振。基于测试与性能表征的方法。另外，也未见文献报道低阻硅衬底对ＢＡＷ 滤波器性能的影响。为了表征本课题组研制的Ｌ波段ＢＡＷ 滤波器轮工艺样品的性能，使用射频探针台和矢量网络分析仪（ＶＮＡ）测得其Ｓ 参数。为了从测得的Ｓ参数便捷地计算

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：510976
    • 提供者：weixin_38692043

  1. 采用不同的测量方法和连接方式对电阻进行有效测量

  2. 1、引 言　　在半导体工艺中许多器件的重要参数和性能都与薄层电阻有关，为提高厚、薄膜集成电路和片式电阻的生产    ，需要使用设备仪器如探针台、激光调阻机对其进行测试或修调。一般所用的测量仪器或设备都包含连接、激励、测量和显示单元，有时还有后期数据处理单元。采用不同的测量方法和不同的连接方式引入的测量误差不同得到的测量也不同。通常开关矩阵中继电器触点闭合电阻为1Ω左右，FET开关打开时的电阻为十几欧，引线电阻为几百毫欧。如何根据需要减少测量误差是测试技术的关键之一。　　2、电阻测试基本原理　　在

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：109568
    • 提供者：weixin_38638309

  1. 手动探针测试台的自动化设计

  2. 摘  要: 介绍了一种对ST-103A 型手动探针测试台进行自动化改造的设计方案。在原设备的基础上， 引进步进电机代替原来的手轮控制；其次， 还引进了摄像头和视频采集卡技术实现对探针台的实时监控；另外， 通过VC + + 编写上位机友好界面既提高了控制精度， 又使得控制更为方便。经测试， 改造后的探针测试台能实现高精度的全自动化控制。 　　ST-103A型手动探针测试台是一种半导体制作工艺的中间测试设备， 是中国电子科技集团公司第四十五研究所研制生产的。主要由工作台、显微镜、测试探头、打点器和

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：365568
    • 提供者：weixin_38625464
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