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  1. 第七届(2005年)全国大学生电子设计竞赛题目

  2. 集成运放参数测试仪(B题) 一、任务 设计并制作一台能测试通用型集成运算放大器参数的测试仪,示意图如图1所示。 图1 二、要求 1、基本要求 (1) 能测试VIO(输入失调电压)、IIO(输入失调电流)、AVD (交流差模开环电压增益)和KCMR (交流共模抑制比)四项基本参数,显示器最大显示数为 3999; (2)各项被测参数的测量范围及精度如下(被测运放的工作电压为±15V): VIO:测量范围为0~40mV(量程为4mV和40mV),误差绝对值小于3%读数+1个字; IIO:测量范围为0
  3. 所属分类:专业指导

  1. 运放 参数测试

  2. 本系统基于GB3442-82国家标准,采用辅助运放测试法,将集成运放的各项基本参数融为一体并进行精确测量,整个系统以单片机和FPGA为控制核心,通过对继电器的控制,实现测试原理电路中的各处开关通断,从而以较为简单的电路实现多种参数测试,并结合D/A、A/D、检波等模块实现检测信号的合成、数据的采集、存储、运算、显示等功能,能够实现手动和自动切换功能和量程,准确测得 VIO(输入失调电压)、IIO (输入失调电流)、AVD (交流差模开环电压增益)和KCMR (交流共模抑制比)四项基本参数和BW
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2012-11-29
    • 文件大小:199680
    • 提供者:a626329489
  1. 模拟电路发展历程及其参数测量ppt

  2. 本次报告主要以模拟电路发展的历史为轴线,分别对模拟电路在电子管时期,晶体管时期,以及集成电路时期相对应的的核心器件电子管、晶体管、运算放大器作了比较详细的介绍。在分立元件时期,主要介绍了点测法与图示法下,对晶体管的输入特性与输出特性曲线的测量。在集成电路时期,主要从建立模型的角度,分别介绍了运算放大器的输入失调电压测量,输入失调电流测量,以及压摆率测量。输入失调电压的测量中,介绍了开环下以及闭环下的两种测试方法。输入失调电流的测量中,从运放的输入差分级建立模型,分析了失调电流产生的机理,以及测
  3. 所属分类:讲义

    • 发布日期:2018-03-06
    • 文件大小:3145728
    • 提供者:module_tb
  1. 低压低功耗全摆幅CMOS运算放大器设计与仿真.pdf

  2. 低压低功耗全摆幅CMOS运算放大器设计与仿真pdf,ABSTRACT In recent years, more and more electronic products with battery supply are widely used, which cries for adopting low voltage analog circuits to reduce power consumption, therefore low voltage, low power analog circu
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2019-09-14
    • 文件大小:3145728
    • 提供者:weixin_38744435
  1. 进口芯片替代芯片汇总-AD8551_52替代品 MS8551_52_V1.0.pdf

  2. 进口芯片替代芯片汇总-AD8551_52替代品 MS8551_52_V1.0.pdf3瑞盟科技 Ms8551/8552/8554 电气参数(V) (若无特别说明,Vs=+5V,VM=+2.5V,Vo=+25VTA=25℃。) 参数 符号 测试条件 最小值典型值最大值单位 输入特性 输入失调电压 OS 40C≤T≤+125℃ 输入偏置电流 10 50 A 10℃C≤T≤+125℃ nA 输入大调电流 40℃≤T≤+125℃ 150400pA 输入电压范围 5 共模抑制比 VcM=oV to 5 1
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2019-09-03
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:weixin_38743968
  1. 测试运算放大器的输入偏置电流

  2. 在本系列第 1 部分《电路测试主要运算放大器参数》一文中,我们介绍了一些基本运算放大器测试,例如失调电压 (VOS)、共模抑制比 (CMRR)、电源抑制比 (PSSR) 和放大器开环增益 (Aol)。本文我们将探讨输入偏置电流的两种测试方法。选择哪种方法要取决于偏置电流的量级。我们将介绍器件测试过程中需要考虑的各种误差源。本系列的下篇文章将介绍一款可配置测试电路,其可帮助您完成本文所介绍的所有测量
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-28
    • 文件大小:80896
    • 提供者:weixin_38632006
  1. 可配置电路测试运算放大器

  2. 在本系列的第 1 部分中,我们为大家介绍了三种运算放大器测试电路。这些电路有助于测试失调电压、共模抑制比、电源抑制比以及放大器开环增益。在第 2 部分中,我们集中介绍了输入偏置电流测量。现在,我们将介绍适用于自测试电路与双运算放大器测试电路的电路配置。这两种电路可通过不同的继电器配置存在于同一款电路设计中。该电路有助于您使用任何最佳方法测试给定运算放大器。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-28
    • 文件大小:71680
    • 提供者:weixin_38699302
  1. 模拟技术中的如何实现高精度电平设置

  2. 电路功能与优势   利用电压输出DAC实现真正的16位性能不仅要求选择适当的DAC,而且要求选择适当的配套支持器件。针对精密16数模转换应用,本电路使用AD5542A/AD5541A电压输出DAC、ADR421基准电压源以及用作基准电压缓冲的AD8675 超低失调运算放大器,提供了一款低风险解决方案。   基准电压缓冲对于设计至关重要,因为DAC基准输入的输入阻抗与码高度相关,如果DAC基准电压源未经充分缓冲,将导致线性误差。开环增益高达120 dB的AD8675已经过验证和测试,符合本电路应用
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-22
    • 文件大小:137216
    • 提供者:weixin_38592134
  1. 元器件应用中的THS4271集成电路实验特性及其应用

  2. 摘要:以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路,在定义的条件下实验,分别测量了运放的输入失调电压UIO,输入失调电流IIO,共模抑制比CMRR,开环差模放大倍数AUd等主要参数。同时对测量的数据对应的相应的参数进行了简单分析。基于THS4271的单位增益稳定,低失真,高压摆率等特性,举出几个应用实例,来说明其在某些工程领域有一定的应用价值,供今后的使用者参考。   虽然经过多年的发展,在现代集成电路与系统芯片(Systemon Chip,SoC)中,集成电路运算放大器的应用
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-21
    • 文件大小:279552
    • 提供者:weixin_38665944
  1. 输入失调电压的开环测试

  2. 输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数,GB/T6798-1996中,将其定义为“使输出电压为规定值时,两输入端间所加的直流补偿电压”。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-20
    • 文件大小:78848
    • 提供者:weixin_38712908
  1. 电压比较器VIO的开环测试

  2. 输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数,GB/T 6798-1996中,将其定义为“使输出电压为规定值时,两输入端间所加的直流补偿电压”。传统测试设备大都采用“被测器件(DUT,Device Under Test)-辅助运放”的测试模式。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-18
    • 文件大小:79872
    • 提供者:weixin_38702945
  1. 电源技术中的利用16位电压输出DAC实现高精度电平设置

  2. 电路功能与优势   利用电压输出DAC实现真正的16位性能不仅要求选择适当的DAC,而且要求选择适当的配套支持器件。针对精密16数模转换应用,本电路使用AD5542A/AD5541A电压输出DAC、ADR421基准电压源以及用作基准电压缓冲的AD8675 超低失调运算放大器,提供了一款低风险解决方案。   基准电压缓冲对于设计至关重要,因为DAC基准输入的输入阻抗与码高度相关,如果DAC基准电压源未经充分缓冲,将导致线性误差。开环增益高达120 dB的AD8675已经过验证和测试,符合本电路
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-05
    • 文件大小:257024
    • 提供者:weixin_38582909
  1. 电子测量中的电压比较器VIO的开环测试(图)(LM311)

  2. 输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数,GB/T 6798-1996中,将其定义为“使输出电压为规定值时,两输入端间所加的直流补偿电压”。传统测试设备大都采用“被测器件(DUT,Device Under Test)-辅助运放”的测试模式,测试原理图见图1。                                                                           在辅助运放A的作用下,整个系统构成稳定的闭环网络,从而使VD
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-13
    • 文件大小:84992
    • 提供者:weixin_38724229
  1. THS4271集成电路实验特性及其应用

  2. 以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路,在定义的条件下实验,分别测量了运放的输入失调电压UIO ,输入失调电流IIO,共模抑制比CMRR,开环差模放大倍数AUd 等主要参数。同时对测量的数据对应的相应的参数进行了简单分析。基于THS4271的单位增益稳定,低失真,高压摆率等特性,举出几个应用实例,来说明其在某些工程领域有一定的应用价值,供今后的使用者参考。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-31
    • 文件大小:570368
    • 提供者:weixin_38684335
  1. 如何实现高电平设置

  2. 电路功能与优势   利用电压输出DAC实现真正的16位性能不仅要求选择适当的DAC,而且要求选择适当的配套支持器件。针对精密16数模转换应用,本电路使用AD5542A/AD5541A电压输出DAC、ADR421基准电压源以及用作基准电压缓冲的AD8675 超低失调运算放大器,提供了一款低风险解决方案。   基准电压缓冲对于设计至关重要,因为DAC基准输入的输入阻抗与码高度相关,如果DAC基准电压源未经充分缓冲,将导致线性误差。开环增益高达120 dB的AD8675已经过验证和测试,符合本电路应用
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:164864
    • 提供者:weixin_38665944
  1. 零漂移精密运算放大器参数分析和基本构成

  2. 零漂移精密运算放大器是专为由于差分电压小而要求高输出精度的应用设计的专用运算放大器。它们不仅具有低输入失调电压,还具有高共模抑制比(CMRR)、高电源抑制比(PSRR)、高开环增益和在宽温度及时间范围的低漂移(见表1)。这些特征使其非常适用于诸如低边电流检测和传感器接口、特别是具有非常小的差分信号的应用。   表1. 影响运算放大器准确度和精密度的关键参数。   虽然零漂移运算放大器制造商有时声称这些器件没有混叠效应,但实际上它们可能容易出现混叠,因为这些器件使
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:251904
    • 提供者:weixin_38654315
  1. 详解运算放大器电路中的失调电压与开环增益

  2. 失调电压与开环增益,它们是表亲。理解这种“不完全”,可帮助你了解你运算放大器电路的误差。   所有人都知道失调电压,对吧?在图 1a 所示简单的 G=1 电路中,输出电压是运算放大器的失调电压。失调电压被建模为与一个输入端串联的DC电压。在单位增益中,G=1 时,失调电压直接传递至输出。在右侧高增益电路中,输出电压为1000?Vos,没错吧?   好吧,差不多是这样,但不完全。理解这种“不完全”,可帮助你了解你运算放大器电路的误差。   在种情况下,输出电压非
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:103424
    • 提供者:weixin_38737283